[实用新型]单晶探头探测平面锻件平底孔对比试块

权利要求书

1.一种单晶探头探测平面锻件平底孔对比试块，所述对比试块为圆柱体，所述对比试块的一侧底面上设置有平底孔，所述平底孔垂直于底面，所述平底孔与另一侧底面的距离为L，当L小于等于152mm时，所述对比试块的直径为50.8mm±0.76mm；当L大于152mm且小于等于305mm时，所述对比试块的直径为63.5 mm±0.76mm；其特征在于，当L大于305mm时，所述对比试块的直径为                                                mm±0.76mm，其中f为所述单晶探头的工作频率，所述工作频率的单位为兆赫。

2.如权利要求1所述的单晶探头探测平面锻件平底孔对比试块，其特征在于，所述平底孔位于对比试块一侧底面的中部。

3.如权利要求1所述的单晶探头探测平面锻件平底孔对比试块，其特征在于，所述平底孔的深度为19mm±1.6mm。

4.如权利要求1所述的单晶探头探测平面锻件平底孔对比试块，其特征在于，所述平底孔与另一侧底面的距离为L，当L小于等于38.1mm时，所述平底孔的直径为1.6mm±0.013mm；当L大于38.1mm且小于等于152.4mm时，所述平底孔的直径为3.2mm±0.03mm；当L大于152.4mm时，所述平底孔的直径为6.4mm±0.03mm。

5.如权利要求1所述的单晶探头探测平面锻件平底孔对比试块，其特征在于，所述对比试块的两个底面的表面平直度小于等于0.01mm，所述对比试块的表面平行度小于等于0.02mm。

6.如权利要求1所述的单晶探头探测平面锻件平底孔对比试块，其特征在于，所述平底孔相对于对比试块底面的平直度和垂直度均小于等于0°20’。

7.如权利要求1所述的单晶探头探测平面锻件平底孔对比试块，其特征在于，所述平底孔的孔底的平整度小于等于1mm/125mm，所述平底孔的轴线距离对比试块的轴线在0.38mm以内。

8.如权利要求1所述的单晶探头探测平面锻件平底孔对比试块，其特征在于，所述平底孔的开口处具有平底扩孔，所述平地扩孔的直径为6.4mm±0.5mm，所述平底扩孔的深度为1.6mm±0.5mm。