[发明专利]一种辐射效应测试方法、装置及系统

说明书

技术领域

本发明涉及空间辐射效应测试领域，更具体的说是涉及一种辐射效应测试方法、装置及系统。

背景技术

现今，根据国内外大量的数据表明，空间环境例如核爆炸环境、航天环境甚至地表大气环境中均存在多种射线和粒子等辐射，所述辐射会使处于所述空间环境的芯片出现辐射效应，从而影响所述芯片的性能和功能。其中，辐射效应指射线或粒子与物体之间的相互作用，即由辐射产生的电荷引起芯片电参数或功能的变化。因此，为了确定芯片对所述空间不同辐射环境的抗辐射性能，提高该芯片在所述空间环境应用的可靠性，对处于某辐射环境中芯片的辐射效应的测试已成为关键。

目前，现有的辐射效应测试方法，通常是利用一提供某辐射的加速器模拟空间辐射环境，通过一测试激励模块给一被测芯片发送测试激励，此时，处于所述辐射环境中的所述被测芯片产生对应的激励响应数据，之后由一测试响应分析模块获取所述激励响应数据，并通过将所述激励响应数据与预期的标准激励响应数据进行比较，从而确定处于所述辐射环境中的所述被测器件出现的辐射效应。

但是，现有的辐射效应测试方法，其在一次辐射效应测试中只能对一个被测芯片进行测试，得到相应激励响应数据，严重影响了测试效率，也大大增加了测试成本。

发明内容

有鉴于此，本发明提供了一种辐射效应测试方法、装置及系统，实现了同时对相互独立的多个被测芯片的辐射效应测试，提高了测试效率，节约了测试成本。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：

一种辐射效应测试方法，应用于辐射效应测试系统，所述系统包括封装在同一管芯的同一平面，且相互独立的多个被测芯片，所述方法包括：

分别向所述多个被测芯片中对应的被测芯片同时发送测试激励；

分别同时获取处于辐射环境中的所述多个被测芯片依据接收到的所述测试激励所产生的激励响应数据；

依据所述激励响应数据，确定与所述激励响应数据相对应的所述被测芯片出现的辐射效应。

优选的，在所述分别向所述多个被测芯片中对应的被测芯片同时发送测试激励，和所述分别同时获取处于辐射环境中的所述多个被测芯片依据接收到的所述测试激励所产生的激励响应数据之间，还包括：向所述多个被测芯片同时施加辐射。

优选的，所述分别向所述多个被测芯片中对应的被测芯片同时发送测试激励具体包括：

通过对应的激励传输通道，向所述多个被测芯片中对应的被测芯片同时发送测试激励。

优选的，所述分别同时获取处于辐射环境中的所述多个被测芯片依据接收到的对应的所述测试激励所产生的激励响应数据具体包括：

通过对应的响应数据传输通道，同时获取处于辐射环境中的所述多个被测芯片中对应的被测芯片依据接收到的所述测试激励产生的激励响应数据。

一种辐射效应测试装置，所述装置包括：多个相互独立的测试激励模块和多个相互独立的测试响应分析模块，其中，

所述测试激励模块，用于向所述多个被测芯片中对应的被测芯片发送测试激励；

所述测试响应分析模块，用于分别同时获取处于辐射环境中的所述多个被测芯片中对应的被测芯片依据所接收到的所述测试激励所述产生的激励响应数据，并依据所述激励响应数据，确定与所述激励响应数据相对应的所述被测芯片出现的辐射效应。

优选的，所述装置还包括：

控制模块，用于向所有的所述测试激励模块同时发送控制信号，所述控制信号，用于控制所有的所述测试激励模块分别同时产生测试激励；

辐射源，用于对所述多个被测芯片同时施加辐射。优选的，所述辐射源的束斑尺寸不小于用于封装所述被测芯片的管芯尺寸。

优选的，所述装置还包括：多个相互独立的激励传输通道和多个相互独立的响应数据传输通道，其中，

所述激励传输通道，用于传输对应的所述测试激励模块所发送的所述测试激励；

所述响应数据传输通道，用于传输对应的所述测试响应分析模块所获取的所述激励响应数据。

一种辐射效应测试系统，包括所述辐射效应测试装置，以及封装在同一管芯的同一平面，且相互独立的多个被测芯片。