[发明专利]一种辐射效应测试方法、装置及系统

权利要求书

1.一种辐射效应测试方法，其特征在于，应用于辐射效应测试系统，所述系统包括封装在同一管芯的同一平面，且相互独立的多个被测芯片，所述方法包括：

分别向所述多个被测芯片中对应的被测芯片同时发送测试激励；

分别同时获取处于辐射环境中的所述多个被测芯片依据接收到的所述测试激励所产生的激励响应数据；

依据所述激励响应数据，确定与所述激励响应数据相对应的所述被测芯片出现的辐射效应。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述分别向所述多个被测芯片中对应的被测芯片同时发送测试激励，和所述分别同时获取处于辐射环境中的所述多个被测芯片依据接收到的所述测试激励所产生的激励响应数据之间，还包括：向所述多个被测芯片同时施加辐射。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述分别向所述多个被测芯片中对应的被测芯片同时发送测试激励具体包括：

通过对应的激励传输通道，向所述多个被测芯片中对应的被测芯片同时发送测试激励。

4.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述分别同时获取处于辐射环境中的所述多个被测芯片依据接收到的对应的所述测试激励所产生的激励响应数据具体包括：

通过对应的响应数据传输通道，同时获取处于辐射环境中的所述多个被测芯片中对应的被测芯片依据接收到的所述测试激励产生的激励响应数据。

5.一种辐射效应测试装置，其特征在于，包括：多个相互独立的测试激励模块和多个相互独立的测试响应分析模块，其中，

所述测试激励模块，用于向所述多个被测芯片中对应的被测芯片发送测试激励；

所述测试响应分析模块，用于分别同时获取处于辐射环境中的所述多个被测芯片中对应的被测芯片依据所接收到的所述测试激励所述产生的激励响应数据，并依据所述激励响应数据，确定与所述激励响应数据相对应的所述被测芯片出现的辐射效应。

6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，还包括：

控制模块，用于向所有的所述测试激励模块同时发送控制信号，所述控制信号，用于控制所有的所述测试激励模块分别同时产生测试激励；

辐射源，用于对所述多个被测芯片同时施加辐射。

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述辐射源的束斑尺寸不小于用于封装所述被测芯片的管芯尺寸。

8.根据权利要求5-7任一项所述的装置，其特征在于，还包括：多个相互独立的激励传输通道和多个相互独立的响应数据传输通道，其中，

所述激励传输通道，用于传输对应的所述测试激励模块所发送的所述测试激励；

所述响应数据传输通道，用于传输对应的所述测试响应分析模块所获取的所述激励响应数据。

9.一种辐射效应测试系统，其特征在于，包括如权利要求5-8任一项所述辐射效应测试装置，以及封装在同一管芯的同一平面，且相互独立的多个被测芯片。