[发明专利]一种计算机硬盘的化学机械抛光液有效
| 申请号: | 201210587505.3 | 申请日: | 2012-12-28 |
| 公开(公告)号: | CN103897604A | 公开(公告)日: | 2014-07-02 |
| 发明(设计)人: | 宋晗;王良咏;刘卫丽;宋志棠 | 申请(专利权)人: | 上海新安纳电子科技有限公司;中国科学院上海微系统与信息技术研究所 |
| 主分类号: | C09G1/02 | 分类号: | C09G1/02 |
| 代理公司: | 上海光华专利事务所 31219 | 代理人: | 许亦琳;余明伟 |
| 地址: | 201506 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 计算机 硬盘 化学 机械抛光 | ||
1.一种计算机硬盘化学机械抛光液,为含有氧化剂、研磨粒子、盐类添加剂以及pH调节剂的水溶液;所述盐类添加剂通式为X-R-Y,其中X为阳离子,Y为阴离子,R为直链烃基或其衍生物。
2.如权利要求1所述的抛光液,其特征在于,X选自Ca2+、Mg2+、Zn2+、K+、Na+、Li+、-NH2+或Al3+,Y选自PO43-、NO3-、Cl-、Br-、I-、COOH-或SO42-,R为-[CH2]n-、-[CH2]n-的衍生物、-[CH=CH]n-或-[CH=CH]n-的衍生物。
3.如权利要求1或2任一权利要求所述的抛光液,其特征在于,所述氧化剂选自铁氰化钾、双氧水、过硫酸铵、过硫酸钾或过硫酸钠。
4.如权利要求1或2任一权利要求所述的抛光液,其特征在于,所述研磨粒子为氧化硅粒子。
5.如权利要求4所述的抛光液,其特征在于,所述氧化硅粒子的半径为10~80nm。
6.如权利要求1或2任一权利要求所述的抛光液,其特征在于,所述pH调节剂为HCl或KOH。
7.如权利要求1或2任一权利要求所述的抛光液,其特征在于,所述抛光液中,氧化剂的浓度为0.1~20wt%,研磨粒子的浓度为0.2~30wt%,盐类添加剂的浓度为0.5~1.5wt%,所述抛光液的pH值为1~9。
8.如权利要求7所述的抛光液,其特征在于,所述抛光液中,氧化剂的浓度为2~10wt%,研磨粒子的浓度为1~10wt%,盐类添加剂的浓度为1wt%,所述抛光液的pH值为1~5。
9.权利要求1-8任一权利要求所述计算机硬盘化学机械抛光液的应用,为用于NiP硬盘的抛光。
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