[发明专利]一种平面误差度测量设备及测量方法有效
申请号: | 201210559853.X | 申请日: | 2012-12-20 |
公开(公告)号: | CN103033122A | 公开(公告)日: | 2013-04-10 |
发明(设计)人: | 高原;郑严;王化鹏 | 申请(专利权)人: | 北京小米科技有限责任公司 |
主分类号: | G01B5/28 | 分类号: | G01B5/28 |
代理公司: | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人: | 黄志华 |
地址: | 100102 北京市朝阳区*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 平面 误差 测量 设备 测量方法 | ||
技术领域
本发明涉及检测设备技术领域,尤其涉及到一种平面误差度测量设备及测量方法。
背景技术
近几年,随着科学技术的不断发展,机械行业的加工精度也随着有了更进一步的发展和延伸,很多行业都提高了对产品精准度的关注,尤其是手机等精加工行业,对产品加工精准度的要求又有了更加严格的要求。然而对于机械加工来说,无论采用何种加工方法或加工设备,都不可避免加工部件的尺寸、形状与理论值产生一些偏离,即加工误差。因此,如何快速简单的甄别这些误差、避免这些误差对下一步工序造成不良影响就变得非常重要。对于手机行业来说,影响比较大的加工误差是平面度误差,而检测部件的平面度误差需要在实验室中辅以精密复杂的设备才能进行检测。目前常用的检测部件平面度误差的光电设备有二次元坐标仪、影像投影仪等。
背景技术存在的缺陷在于,目前采用的这些测量设备体积比较庞大,操作复杂,且检测条件要求比较高,如:检测时需要使用电源、检测时环境温度和湿度要控制在一定范围内。因此,只能在实验室内使用这些测量设备对部件进行平面度检测,无法在生产线上使用这些设备快速、便捷的检测分析部件的平面度,且这些检测设备检测效率比较低。
发明内容
本发明提供一种平面误差度测量设备及测量方法,用以快速、便捷的检测部件的平面度,解决背景技术中的检测设备无法在生产线上检测分析部件平面度的问题。
本发明提供的一种平面误差度测量设备,所述设备包括:
支架;
螺旋尺,包括具有内螺纹的螺旋套和定位套,其中,所述螺旋套的外周表面设置有刻度表盘和环形滑槽,所述定位套滑动套装于所述环形滑槽内,且具有与刻度表盘相对的基准刻度;
至少三个支撑脚,所述至少三个支撑脚的支撑点确定支撑平面,每个支撑脚均与所述支架和定位套连接,且所述支架和定位套的放置平面分别与所述支撑平面平行;
探测针装置,包括与螺旋套螺纹连接的螺旋杆,以及与螺旋杆连接并垂直指向所述支撑平面的探测针,所述螺旋杆外周表面具有限位凸起;
限位套,滑动套装于所述螺旋杆上并与支架固定连接,且限位套的内壁上设置有限位槽,所述螺旋杆上的限位凸起位于该限位槽内。
优选地,所述限位套与支架为一体结构。
优选地,所述支架具有套筒,所述限位套通过紧固件固定在该套筒内。
优选地,所述支架为环形支架,且具有支撑肋,支撑肋与所述套筒连接。
可选择地,所述每个支撑脚包括顺次连接的支撑部、与支架连接的枢接部,以及与所述定位套连接的定位部;所述定位套周向均匀设置有三个定位轴,每个定位轴与一个具有定位孔的定位板枢接;所述支撑脚的定位部穿设于所述定位板的定位孔内,所述支撑脚的枢接部通过紧固件固定在支架上。
可选择地,所述每个支撑脚包括顺次连接的支撑部、与支架连接的枢接部,以及与所述定位套连接的定位部;所述定位套周向均匀设置有三个定位轴,每个定位轴与一个具有定位孔的定位板枢接,该定位板的定位孔上设置有紧固件;所述支撑脚的定位部穿设于所述定位板的定位孔内,且通过该紧固件固定在定位板的定位孔内。
优选地,所述探测针装置还包括连接杆,所述螺旋杆与探测针通过连接杆连接。
优选地,所述连接杆为水平杆,连接杆的一端与螺旋杆枢接,连接杆的另一端与探测针固定连接。
优选地,所述连接杆上滑动装配有滑块,所述探测针与滑块固定连接。
本发明一种平面误差度测量方法,所述方法包括:
对平面误差度测量设备进行水平度校准,确认所述测量设备上的每个支撑脚均在同一平面内;
将所述测量设备的支撑脚放置于被测部件的待测平面上;
通过螺旋套上的刻度表盘与定位套的基准刻度对齐的刻度确定探测针装置沿垂直被测部件放置平面方向上的距离,其中通过支架以及固定在支架上的限位套限定探测针装置只能沿垂直被测部件放置平面的方向移动。
通过设置在所述套筒内的限位套调整螺旋套,使螺旋套上刻度表盘的零刻度线与定位套上的基准刻度对齐。
通过设置在定位套上的定位板来调整支撑脚的张开角度的不同,确定被测部件的被测平面的测量范围。
本发明有益效果如下:通过探测针来测量被测部件上各个点的竖直位置,从而检测被测部件的平面度是否合格,在检测时仅需一个平面基准板就可以对被测部件进行检测,可以快速、便捷的检测部件的平面度。
附图说明
图1为本发明平面误差度测量设备一实施例的结构示意图;
图2为图1的局部剖视图;
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