[发明专利]一种平面误差度测量设备及测量方法

权利要求书

1.一种平面误差度测量设备，其特征在于，所述设备包括：

支架（50）；

螺旋尺，包括具有内螺纹的螺旋套（10）和定位套（20），其中，所述螺旋套（10）的外周表面设置有刻度表盘（11）和环形滑槽（12），所述定位套（20）滑动套装于所述环形滑槽（12）内，且具有与刻度表盘（11）相对的基准刻度；

至少三个支撑脚（70），至少三个所述支撑脚（70）的支撑点确定支撑平面，每个支撑脚（70）均与所述支架（50）和定位套（20）连接，且所述支架（50）和定位套（20）的放置平面分别与所述支撑平面平行；

探测针装置，包括与螺旋套（10）螺纹连接的螺旋杆（30），以及与螺旋杆（30）连接并垂直指向所述支撑平面的探测针（60），所述螺旋杆（30）外周表面具有限位凸起（31）；

限位套（40），滑动套装于所述螺旋杆（30）上并与支架（50）固定连接，且限位套（40）的内壁上设置有限位槽（41），所述螺旋杆（30）上的限位凸起（31）位于该限位槽（41）内。

2.如权利要求1所述的平面误差度测量设备，其特征在于，所述限位套（40）与支架（50）为一体结构。

3.如权利要求1所述的平面误差度测量设备，其特征在于，所述支架（50）具有套筒（51），所述限位套（40）通过紧固件固定在该套筒（51）内。

4.如权利要求3所述的平面误差度测量设备，其特征在于，所述支架（50）为环形支架，且具有支撑肋，支撑肋与所述套筒（51）连接。

5.如权利要求4所述的平面误差度测量设备，其特征在于，

所述每个支撑脚（70）包括顺次连接的支撑部（71）、与支架（50）连接的枢接部（72），以及与所述定位套（20）连接的定位部（73）；

所述定位套（20）周向均匀设置有三个定位轴（21），每个定位轴（21）与一个具有定位孔的定位板（22）枢接；

所述支撑脚（70）的定位部（73）穿设于所述定位板（22）的定位孔内，所述支撑脚（70）的枢接部（72）通过紧固件（90）固定在支架（50）上。

6.如权利要求4所述的平面误差度测量设备，其特征在于，

所述每个支撑脚（70）包括顺次连接的支撑部（71）、与支架（50）连接的枢接部（72），以及与所述定位套（20）连接的定位部（73）；

所述定位套（20）周向均匀设置有三个定位轴（21），每个定位轴（21）与一个具有定位孔的定位板（22）枢接，该定位板（22）的定位孔上设置有紧固件；

所述支撑脚（70）的定位部（73）穿设于所述定位板（22）的定位孔内，且通过该紧固件固定在定位板（22）的定位孔内。

7.如权利要求1~6任一项所述的平面误差度测量设备，其特征在于，所述探测针装置还包括连接杆（80），所述螺旋杆（30）与探测针（60）通过连接杆（80）连接。

8.如权利要求7所述的平面误差度测量设备，其特征在于，所述连接杆（80）为水平杆，连接杆（80）的一端与螺旋杆（30）枢接，连接杆（80）的另一端与探测针（60）固定连接。

9.如权利要求8所述的平面误差度测量设备，其特征在于，所述连接杆（80）上滑动装配有滑块（81），所述探测针（60）与滑块（81）固定连接。

10.一种平面误差度测量方法，其特征在于，所述方法包括：

对平面误差度测量设备进行水平度校准，确认所述测量设备上的每个支撑脚（70）均在同一平面内；

将所述测量设备的支撑脚（70）放置于被测部件待测平面上；

通过螺旋套（10）上的刻度表盘（11）与定位套（20）的基准刻度对齐的刻度确定探测针装置沿垂直被测部件放置平面方向上的距离，其中通过支架（50）以及固定在支架（50）上的限位套（40）限定探测针装置只能沿垂直被测部件放置平面的方向移动。

11.如权利要求10所述的测量方法，其特征在于，所述方法还包括：

通过设置在所述套筒（51）内的限位套（40）调整螺旋套（10），使螺旋套（10）上刻度表盘（11）的零刻度线与定位套（20）上的基准刻度对齐。

12.如权利要求10所述的测量方法，其特征在于，所述方法还包括：通过设置在定位套（20）上的定位板（22）来调整支撑脚（70）的张开角度的不同，确定被测部件的被测平面的测量范围。