[发明专利]N型直拉单晶硅的制备方法无效

专利信息
申请号: 201210553674.5 申请日: 2012-12-18
公开(公告)号: CN103014836A 公开(公告)日: 2013-04-03
发明(设计)人: 乔松;司佳勇;周浩;唐磊;尹东坡;郭凯 申请(专利权)人: 英利能源(中国)有限公司
主分类号: C30B15/00 分类号: C30B15/00;C30B29/06
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 王宝筠
地址: 071051 河*** 国省代码: 河北;13
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摘要:
搜索关键词: 型直拉 单晶硅 制备 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及单晶硅的制造技术,尤其涉及一种N型直拉单晶硅的制备方法。

背景技术

目前,制作单晶硅的最主要的方法为直拉法(CZ法),直拉单晶硅生产过程主要包括投料、抽空、熔料、稳定化、引晶、放肩、等径、收尾、冷却。单晶硅棒是直拉单晶硅方法形成的终端产品。单晶硅棒如图1所示,包括肩部01、等径部分02、尾部03,其中,等径部分头部021紧挨肩部01,约肩部01以下200mm之内。单晶棒的肩部01和尾部03在使用时将其切除,能够使用的单晶硅棒的部分为等径部分02。

目前,依据石英坩埚尺寸的不同,生产8寸N型直拉单晶硅的投料量一般为120kg或150kg。采用常规投料量时,等径部分02重量占总投料量的比例一般为90%~92%,所占的重量比较低。单位重量硅棒成本较高。且常规投料量较小,限制了单晶炉的产能,在总产能要求一定的前提下,将需要购置更多的单晶炉,导致设备成本增加。为了降低单晶硅生产成本,增加投料量是最重要的方法之一。使用相同数量的石英坩埚,投料量越大,单位重量的硅单晶成本越低。

然而,如果在现有的直拉法制备硅单晶的方法的条件下,增加投料量(一般情况下,增加的投料量在常规投料量的基础上不大于50kg),坩埚内的熔体高度会增加,制备出的硅单晶棒的等径部分头部021存在较多的晶体缺陷,如漩涡缺陷、氧化诱生层错等。这是由于石英坩埚内熔体高度较高,熔体的热对流较强(热对流通常与熔体高度3次方成正比),较强的热对流会增加熔体对氧的输送能力且造成长晶界面(固液交界面)的温度稳定性变差,进而导致单晶硅棒等径部分头部021的氧含量增加、少子寿命降低。单晶硅棒中少子寿命不满足要求的部分如等径部分头部021将被去除,因而,在现有工艺条件下,增加投料量不但没有降低成本,反而造成极大的浪费。

发明内容

有鉴于此,本发明提供了一种N型直拉单晶硅的工艺方法,以解决现有技术中增加投料量后导致等径部分头部氧含量增加、少子寿命缩短的问题。

为了解决上述技术问题,本发明采用的技术方案如下:

一种N型直拉单晶硅的制备方法,等径过程包括等径初期,采用的工艺条件包括,在所述等径初期的平均拉速为1.2~1.6mm/min。

进一步地,采用的工艺条件还包括,所述等径过程中的晶转为8~12rpm。

进一步地,采用的工艺条件还包括,所述等径过程中的埚转为5~8rpm。

进一步地,采用的工艺条件还包括,所述等径过程中的氩气流量为40~70L/min。

进一步地,采用的工艺条件还包括,所述等径过程中的氩气的压力为15~20torr。

与现有技术相比,本发明提供的N型直拉单晶硅的工艺方法,将单晶硅棒等径初期的平均拉速提高到1.2~1.6mm/min,这样,当投料量增加时,有效降低了单晶硅棒等径部分头部的氧含量,提高了少子寿命,从而提高了单晶硅棒的利用率,降低了成本。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为直拉单晶硅工艺生长的单晶硅棒的示意图;

图2是本发明实施例中等径初期拉速对氧含量影响示意图;

图3是本发明实施例中等径初期拉速对少子寿命影响示意图;

图4是本发明实施例中等径初期拉速对低效片影响示意图。

具体实施方式

为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂,下面结合附图对本发明的具体实施方式做详细的说明。

在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本发明,但是本发明还可以采用其他不同于在此描述的其它方式来实施,本领域技术人员可以在不违背本发明内涵的情况下做类似推广,因此本发明不受下面公开的具体实施例的限制。

相关术语解释:

直拉单晶硅:一种生长单晶硅的生长技术,不同的导电类型单晶硅需掺入不同元素,例如,掺入硼(B)为P型单晶硅,掺入磷(P)为N型单晶硅。

投料:是指将多晶硅料投入石英坩埚的过程,可以一次完成也可以通过特定设备分几次完成。(太阳能级石英坩埚外径通常为22寸或24寸,投料量一般为120kg或150kg)

氧含量/少子寿命:表征单晶硅内在品质的技术参数(在光伏领域,通常氧含量越低越好,少子寿命越高越好)。

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