[发明专利]一种Zn1-xMgxO基异质结及其制备方法有效
申请号: | 201210541857.5 | 申请日: | 2012-12-14 |
公开(公告)号: | CN103066171A | 公开(公告)日: | 2013-04-24 |
发明(设计)人: | 曹铃;王金平;崔艳霞;陈彬;刘瑞萍 | 申请(专利权)人: | 太原理工大学 |
主分类号: | H01L33/02 | 分类号: | H01L33/02;H01L33/26;C23C14/28;C23C14/08 |
代理公司: | 太原科卫专利事务所(普通合伙) 14100 | 代理人: | 戎文华 |
地址: | 030024 山西*** | 国省代码: | 山西;14 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 zn sub mg 基异质结 及其 制备 方法 | ||
1.一种Zn1-xMgxO基异质结,其特征是:在衬底(1)上自下而上依次沉积n-Zn1-xMgxO薄膜层(2)和p-Ni1-yMgyO薄膜层(3);所述衬底(1)是氧化锌、蓝宝石、硅、玻璃和石英中的一种;所述n-Zn1-xMgxO薄膜层(2)是Al或Ga掺杂的Zn1-xMgxO合金薄膜,其中,Mg的摩尔百分含量x为0<x≤30%,Al或Ga的摩尔百分含量a为0<a<5%;所述p-Ni1-yMgyO薄膜层(3)是Li掺杂的Ni1-yMgyO合金薄膜,其中,Mg的摩尔百分含量x为0<y≤40%,Li的摩尔百分含量b为0<b<10%。
2.一种用于如权利要求1所述的Zn1-xMgxO基异质结的制备方法,其特征在于:该方法是采用脉冲激光沉积法,具体方法步骤如下:
1)将ZnO和MgO与Al2O3粉末;或ZnO和MgO与Ga2O3粉末,其中Mg的摩尔百分含量x为0<x≤30%;Al或Ga的摩尔百分含量a为0<a<5%,混合均匀后压制成型,在800 °C预烧结1小时以上,再在1100~1200 °C烧结8小时以上,制得掺Al或Ga的Zn1-xMgxO陶瓷靶材;将NiO、MgO和Li2CO3粉末,其中Mg的摩尔百分含量x为0<y≤40%;Li的摩尔百分含量b为0<b<10%,混合均匀后压制成型,在800 °C预烧结1小时以上,再在1100~1200 °C烧结4小时以上,制得掺Li的Ni1-xMgxO陶瓷靶材;
2)将上述制得的陶瓷靶材和用丙酮、乙醇和去离子水依次超声清洗,并用氮气吹干的衬底置入脉冲激光沉积装置的生长室,调整靶材与衬底间的距离为4~6 cm,生长室背底真空度为10-4 Pa;Zn1-xMgxO基异质结的生长分两步:首先将衬底加热,并保温在300~600 °C,以O2为生长气氛,压强为1~5 Pa,激光频率为3~5 Hz,以掺Al或Ga的Zn1-xMgxO陶瓷靶为溅射靶材,在衬底上沉积n-Zn1-xMgxO薄膜层,生长时间为30~90 min;然后调节衬底温度为300~500 °C,控制氧气压强为0.1~20 Pa,激光频率为3~5 Hz,以掺Li的Ni1-xMgxO陶瓷靶为溅射靶材,在n-Zn1-xMgxO薄膜层上沉积p-Ni1-yMgyO薄膜层,生长时间为30~120 min,生长结束后冷却至室温,获得所述的Zn1-xMgxO基异质结。
3. 如权利要求2所述的Zn1-xMgxO基异质结的制备方法,其特征是所述的Zn1-xMgxO异质结是在氧气气氛保护下原位退火30 min后缓慢冷却至室温。
4.如权利要求2所述的Zn1-xMgxO基异质结的制备方法,其特征是所述的n-Zn1-xMgxO薄膜层与p-Ni1-yMgyO薄膜层的厚度是100~600 nm。
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