[发明专利]一种Zn1-xMgxO基异质结及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201210541857.5 申请日: 2012-12-14
公开(公告)号: CN103066171A 公开(公告)日: 2013-04-24
发明(设计)人: 曹铃;王金平;崔艳霞;陈彬;刘瑞萍 申请(专利权)人: 太原理工大学
主分类号: H01L33/02 分类号: H01L33/02;H01L33/26;C23C14/28;C23C14/08
代理公司: 太原科卫专利事务所(普通合伙) 14100 代理人: 戎文华
地址: 030024 山西*** 国省代码: 山西;14
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摘要:
搜索关键词: 一种 zn sub mg 基异质结 及其 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种Zn1-xMgxO基异质结,其特征是:在衬底(1)上自下而上依次沉积n-Zn1-xMgxO薄膜层(2)和p-Ni1-yMgyO薄膜层(3);所述衬底(1)是氧化锌、蓝宝石、硅、玻璃和石英中的一种;所述n-Zn1-xMgxO薄膜层(2)是Al或Ga掺杂的Zn1-xMgxO合金薄膜,其中,Mg的摩尔百分含量x为0<x≤30%,Al或Ga的摩尔百分含量a为0<a<5%;所述p-Ni1-yMgyO薄膜层(3)是Li掺杂的Ni1-yMgyO合金薄膜,其中,Mg的摩尔百分含量x为0<y≤40%,Li的摩尔百分含量b为0<b<10%。

2.一种用于如权利要求1所述的Zn1-xMgxO基异质结的制备方法,其特征在于:该方法是采用脉冲激光沉积法,具体方法步骤如下:

1)将ZnO和MgO与Al2O3粉末;或ZnO和MgO与Ga2O3粉末,其中Mg的摩尔百分含量x为0<x≤30%;Al或Ga的摩尔百分含量a为0<a<5%,混合均匀后压制成型,在800 °C预烧结1小时以上,再在1100~1200 °C烧结8小时以上,制得掺Al或Ga的Zn1-xMgxO陶瓷靶材;将NiO、MgO和Li2CO3粉末,其中Mg的摩尔百分含量x为0<y≤40%;Li的摩尔百分含量b为0<b<10%,混合均匀后压制成型,在800 °C预烧结1小时以上,再在1100~1200 °C烧结4小时以上,制得掺Li的Ni1-xMgxO陶瓷靶材;   

2)将上述制得的陶瓷靶材和用丙酮、乙醇和去离子水依次超声清洗,并用氮气吹干的衬底置入脉冲激光沉积装置的生长室,调整靶材与衬底间的距离为4~6 cm,生长室背底真空度为10-4 Pa;Zn1-xMgxO基异质结的生长分两步:首先将衬底加热,并保温在300~600 °C,以O2为生长气氛,压强为1~5 Pa,激光频率为3~5 Hz,以掺Al或Ga的Zn1-xMgxO陶瓷靶为溅射靶材,在衬底上沉积n-Zn1-xMgxO薄膜层,生长时间为30~90 min;然后调节衬底温度为300~500 °C,控制氧气压强为0.1~20 Pa,激光频率为3~5 Hz,以掺Li的Ni1-xMgxO陶瓷靶为溅射靶材,在n-Zn1-xMgxO薄膜层上沉积p-Ni1-yMgyO薄膜层,生长时间为30~120 min,生长结束后冷却至室温,获得所述的Zn1-xMgxO基异质结。

3. 如权利要求2所述的Zn1-xMgxO基异质结的制备方法,其特征是所述的Zn1-xMgxO异质结是在氧气气氛保护下原位退火30 min后缓慢冷却至室温。

4.如权利要求2所述的Zn1-xMgxO基异质结的制备方法,其特征是所述的n-Zn1-xMgxO薄膜层与p-Ni1-yMgyO薄膜层的厚度是100~600 nm。

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