[发明专利]优化触碰轨迹的系统及优化触碰轨迹的方法

说明书

技术领域

本发明是有关于一种优化触碰轨迹的系统及优化触碰轨迹的方法，尤指一种利用线性优化方法以减少触控操作所产生的原始报点与实际触碰轨迹之间的偏移的优化触碰轨迹的系统及优化触碰轨迹的方法。

背景技术

请参照图1，图1为说明当使用者利用手指在触控面板上执行触控操作的示意图。如图1所示，当使用者利用手指102在触控面板104上执行触控操作时，触控面板104上触碰点的电容值会因手指102的电容耦合效应而增加，耦接于触控面板104的处理器106即可根据触碰点的电容值变化，侦测并计算触控点的位置。当手指102在触控面板104上执行触控操作时，在手指102移动的路径中被手指102触碰的各个感测单元(如1图所示的虚线圈)的电容值变化会随着与手指102之间的接触面积而不同。

请参照图2，图2为说明处理器106根据触碰点的电容值变化所产生的报点与触碰轨迹的关系示意图。如图2所示，因为每一个感测单元的寄生电容都不相同，所以每一个感测单元的感测能力亦不相同，导致触碰点的位置与处理器106根据触碰点的电容值变化所产生的报点位置会有些许不同。如此，因为根据处理器106所产生的报点的位置所形成的轨迹的线性度通常较低，所以现有技术对于在触控操作上的线性行为会有不好的影响。

发明内容

本发明的一实施例提供一种优化触碰轨迹的系统。该系统包含一触控面板、一缓存器及一处理器。该处理器是用以接收该触控面板上的复数个触碰信号，根据该复数个触碰信号，计算出该触控面板上的复数个原始报点，储存该复数个原始报点至该缓存器，利用一线性优化方法，根据每一原始报点的前i个原始报点和后j个原始报点，产生一对应于该原始报点的优化曲线，及根据该原始报点与该优化曲线，产生一对应于该原始报点的优化报点，其中i和j是为正整数。

本发明的一实施例提供一种优化触碰轨迹的方法。该方法包含该处理器接收该触控面板上的复数个触碰信号；该处理器根据该复数个触碰信号，计算出该触控面板上的复数个原始报点，并储存该复数个原始报点至该缓存器；该处理器利用一线性优化方法，根据每一原始报点的前i个原始报点和后j个原始报点，产生一对应于该原始报点的优化曲线；该处理器根据该原始报点与该优化曲线，产生一对应于该原始报点的优化报点；i和j是为正整数。

本发明提供一种优化触碰轨迹的系统及优化触碰轨迹的方法。该系统和该方法是利用一处理器根据一线性优化方法与每一原始报点的前i个原始报点和后j个原始报点，产生一对应于该原始报点的优化曲线。然后，该处理器即可根据该原始报点与对应于该原始报点的优化曲线，产生一对应于该原始报点的优化报点。因此，相较于现有技术，本发明具有下列的优点：第一、该线性优化的方法可有效减少触控操作所产生的原始报点与实际触碰轨迹之间的偏移；第二、本发明可适用于各种感测单元的结构；第三、本发明可提供感测单元更具弹性之设计需求，以增加感测单元的感测精确度。

附图说明

图1为说明当使用者利用手指在触控面板上执行触控操作的示意图。

图2为说明处理器根据触碰点的电容值变化所产生的报点与触碰轨迹的关系示意图。

图3为本发明的一实施例说明一种优化触碰轨迹的系统的示意图。

图4为说明对象触碰触控面板的示意图。

图5为说明处理器利用线性优化方法根据每一原始报点的前一个原始报点和后一个原始报点，产生对应于原始报点的优化曲线的示意图。

图6为说明复数个原始报点所形成的轨迹、对应于复数个原始报点的优化报点所形成的轨迹与手指的实际触碰轨迹的关系示意图。

图7为说明处理器利用线性优化方法根据每一原始报点的前二个原始报点和后二个原始报点，产生对应于原始报点的优化曲线的示意图。

图8为说明处理器利用线性优化方法根据每一原始报点的前i个原始报点和后j个原始报点，产生对应于原始报点的优化曲线的示意图。

图9为说明在本发明的另一实施例中，处理器根据对应于原始报点的平均值，判断是否忽略原始报点的示意图。

图10为本发明的另一实施例说明一种优化触碰轨迹的方法的流程图。

  【主要组件符号说明】

102、402、404                     手指

104、302                          触控面板

106、306                          处理器