[发明专利]一种测量电力变压器介质损耗因数和绝缘电阻的方法有效
申请号: | 201210521147.6 | 申请日: | 2012-12-03 |
公开(公告)号: | CN103018576A | 公开(公告)日: | 2013-04-03 |
发明(设计)人: | 胡维兴 | 申请(专利权)人: | 杭州西湖电子研究所 |
主分类号: | G01R27/26 | 分类号: | G01R27/26;G01R27/02 |
代理公司: | 杭州求是专利事务所有限公司 33200 | 代理人: | 杜军 |
地址: | 310011 浙江省杭*** | 国省代码: | 浙江;33 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 测量 电力变压器 介质 损耗 因数 绝缘 电阻 方法 | ||
1. 一种测量电力变压器介质损耗因数和绝缘电阻的方法,包括高压继电器、切换开关、介质损耗测量反接模块、介质损耗测量正接模块和绝缘电阻测量模块;
所述的高压继电器,用来控制变压器绕组在测量过程中的状态;
所述的切换开关,用来选择变压器测量项目;
所述的介质损耗测量反接模块,用来测量变压器的介质损耗因数;
所述的介质损耗测量正接模块,用来测量变压器绕组套管的介质损耗因数;
所述的绝缘电阻测量模块,用来测量变压器的绝缘电阻;
各模块的组合与切换,根据实际测量需求决定,其特征在于:
将变压器同一侧绕组短接后与对应高压继电器相连,高压继电器个数与变压器绕组组数对应,按照国家电力行业标准DL/T474.3–2006《现场绝缘试验实施导则介质损耗因数tanδ试验》及《电力设备交接和预防性试验规程》要求的测量内容,切换相应绕组的高压继电器,被测绕组对应的高压继电器切换至高压,非被测绕组对应的高压继电器切换至地端,切换开关选择相应测量模块,当只有一个测试模块时,切换开关可省略。
2.根据权利要求1所述的一种测量电力变压器介质损耗因数和绝缘电阻的方法,其特征在于:所述的高压继电器根据测量进程,实时切换变压器绕组的状态:加压或者是接地。
3.根据权利要求1所述的一种测量电力变压器介质损耗因数和绝缘电阻的方法,其特征在于:所述的切换开关根据测试需求,进行通道切换:选择测量变压器介质损耗因数或是变压器绝缘电阻值。
4.根据权利要求1所述的一种测量电力变压器介质损耗因数和绝缘电阻的方法,其特征在于:所述的介损损耗测量反接模块和介质损耗正接模块,在对变压器进行反接测试时,也同时进行变压器绕组套管的测量。
5.根据权利要求1所述的一种测量电力变压器介质损耗因数和绝缘电阻的方法,其特征在于:所述的高压继电器、介质损耗测量反接模块及介质损耗测量正接模块,可以单独对变压器的介质损耗因数及变压器绕组套管的介质损耗因数进行测量。
6.根据权利要求1所述的一种测量电力变压器介质损耗因数和绝缘电阻的方法,其特征在于:所述的高压继电器及介质损耗测量反接模块,可以单独对变压器的介质损耗因数进行测量。
7.根据权利要求1所述的一种测量电力变压器介质损耗因数和绝缘电阻的方法,其特征在于:所述的高压继电器及绝缘电阻测量模块,可以单独对变压器的绝缘电阻进行测量。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于杭州西湖电子研究所,未经杭州西湖电子研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210521147.6/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。