[发明专利]提高触控坐标轨迹线性度的方法

权利要求书

1.一种提高触控坐标轨迹线性度的方法，用于一电容式多点触控系统，所述电容式多点触控系统包括一电容式触控面板及一控制装置，所述方法包括以下步骤：

步骤A、所述控制装置读取所述电容式触控面板的二维未处理数据；

步骤B、所述控制装置从所述二维未处理数据中读取一像素及该像素的邻近区域；

步骤C、判断所述像素的像素值是否大于一临界值；

步骤D、若判定所述像素的像素值不大于所述临界值，则再判断该像素的邻近区域的像素值是否存在大于所述临界值的像素值；

步骤E、若判定所述邻近区域的像素值均不大于所述临界值，将所述像素的像素值设定为第一设定值；

步骤F、若判定所述像素的像素值大于所述临界值，或者，判定所述像素的邻近区域的像素值存在大于该临界值的像素值，则保留该像素的像素值；

步骤G、判断所述二维未处理数据中的所有像素是否均执行过判定，若否，则重行执行步骤B；

步骤H、在步骤G中，若判断所述二维未处理数据中的所有像素均执行过判定，则对所述二维未处理数据进行特征点撷取，并依据所述特征点，将所述二维未处理数据分割成至少一个触碰区域，并对所述至少一个触碰区域编列识别码。

2.如权利要求1所述的提高触控坐标轨迹线性度的方法，其特征在于，所述方法还包括：

步骤I、依据所述识别码与相对应触碰区域的二维未处理数据，进行坐标内插与分辨率演算，进而输出相对应的触碰坐标。

3.如权利要求1所述的提高触控坐标轨迹线性度的方法，其特征在于：所述二维未处理数据由互感电容感测技术所获得。

4.如权利要求1所述的提高触控坐标轨迹线性度的方法，其特征在于，所述电容式触控面板具有：在一第一方向分布的M条第一导体线，以及在一第二方向分布的N条第二导体线；其中，所述第一方向垂直于所述第二方向，M、N为正整数。

5.如权利要求4所述的提高触控坐标轨迹线性度的方法，其特征在于：所述二维未处理数据具有M×N个像素；其中，i取值为0~(M-1)，j取值为0~(N-1)。

6.如权利要求4所述的提高触控坐标轨迹线性度的方法，其特征在于：所述像素为p(i，j)，所述邻近区域的像素为p(i-1，j-1)、p(i，j-1)、p(i+1，j-1)、p(i-1，j1)、p(i+1，j)、p(i-1，j+1)、p(i，j+1)、p(i+1，j+1)；其中，i取值为0~(M-1)，j取值为0~(N-1)。

7.如权利要求2所述的提高触控坐标轨迹线性度的方法，其特征在于，所述步骤I中，采用一阶动量方法进行坐标内插与分辨率演算，进而输出相对应的触碰坐标。

8.如权利要求1所述的提高触控坐标轨迹线性度的方法，其特征在于，依据所述特征点，将所述二维未处理数据分割成至少一个触碰区域，并对所述至少一个触碰区域编列识别码包括：

对撷取的所有特征点对应的像素值由大到小进行排序，依据排在前两位的像素值对应的特征点，将所述二维未处理数据分割成至少一个触碰区域，进而编列相对应的识别码。

9.如权利要求1所述的提高触控坐标轨迹线性度的方法，其特征在于，依据所述特征点，将所述二维未处理数据分割成至少一个触碰区域，并对所述至少一个触碰区域编列识别码包括：

依据撷取到的所有特征点生成像素直方图；

确定像素直方图中相邻两个峰值之间的山谷区域；

根据相邻两个峰值之间山谷区域对应特征点的像素值，将所述二维未处理数据分割成至少一个触碰区域，进而编列相对应的识别码。