[发明专利]晶圆测试数据处理方法及其系统在审
申请号: | 201210433640.2 | 申请日: | 2012-11-01 |
公开(公告)号: | CN103793437A | 公开(公告)日: | 2014-05-14 |
发明(设计)人: | 许文慧;连晓谦 | 申请(专利权)人: | 无锡华润上华科技有限公司 |
主分类号: | G06F17/30 | 分类号: | G06F17/30 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 常亮 |
地址: | 214028 江苏省无*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 测试 数据处理 方法 及其 系统 | ||
1.一种晶圆测试数据处理方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:
S1、机台对晶圆依次进行测试,获取类文本格式测试数据;
S2、提取类文本格式测试数据,并转换成XML格式测试数据;
S3、将转换后的XML格式测试数据进行多地址存储。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述步骤S2中的XML格式测试数据包括测试得到类文本格式测试数据中的LOT信息、WAFER信息和SITE信息。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述步骤S2具体为:
S21、提取类文本格式测试数据中的文档信息;
S22、提取类文本格式测试数据中的LOT信息,并嵌套在文档信息节点下;
S23、提取类文本格式测试数据中的WAFER信息,并嵌套在LOT信息节点下;
S24、提取类文本格式测试数据中的SITE信息,并嵌套在WAFER信息节点下;
S25、提取类文本格式测试数据中的测试数值,并嵌套在SITE信息节点下。
4.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述LOT信息包括批号信息,产品名信息,量测时间信息,厂名信息,规范文件信息,工艺名信息,设备名信息,操作人员信息;所述WAFER信息包括片数信息,点数信息,参数数目信息,开始时间信息,结束时间信息,测试时间信息,合格片信息,失效项号信息;所述SITE信息包括点号信息,点状态,X坐标信息,Y坐标信息。
5.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述步骤S2还包括:
忽略类文本格式测试数据中的无关信息,所述无关信息包括存储路径、数据上下限。
6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述步骤S3中存储的XML格式测试数据包括用于备份的数据、用于系统内使用的数据和用于系统外使用的数据。
7.一种如权利要求1所述的晶圆测试数据处理系统,其特征在于,所述系统包括:
测试模块,用于对晶圆依次进行测试,获取类文本格式测试数据;
转换模块,用于将提取类文本格式测试数据转换成XML格式测试数据;
存储模块,用于将转换后的XML格式测试数据进行多地址存储。
8.根据权利要求7所述的系统,其特征在于,所述转换模块中获得的XML格式测试数据包括测试模块中类文本测试数据的LOT信息、WAFER信息和SITE信息。
9.根据权利要求8所述的系统,其特征在于,所述转换模块中获得的XML格式测试数据包括:
文档信息;
嵌套在文档信息节点下的LOT信息;
嵌套在LOT信息节点下的WAFER信息;
嵌套在WAFER信息节点下的SITE信息;
嵌套在SITE信息节点下的测试数值。
10.根据权利要求8所述的系统,其特征在于,所述LOT信息包括批号信息,产品名信息,量测时间信息,厂名信息,规范文件信息,工艺名信息,设备名信息,操作人员信息;所述WAFER信息包括片数信息,点数信息,参数数目信息,开始时间信息,结束时间信息,测试时间信息,合格片信息,失效项号信息;所述SITE信息包括点号信息,点状态,X坐标信息,Y坐标信息。
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