[发明专利]存储器的可靠性测试方法有效
| 申请号： | 201210405272.0 | 申请日： | 2012-10-22 |
| 公开（公告）号： | CN102890971A | 公开（公告）日： | 2013-01-23 |
| 发明（设计）人： | 钱亮 | 申请（专利权）人： | 上海宏力半导体制造有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 骆苏华 |
| 地址： | 201203 上海市浦东新*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 存储器 可靠性 测试 方法 | ||
1.一种存储器的可靠性测试方法，其特征在于，包括：对存储器进行第一测试，所述第一测试的步骤包括：
在存储器内写入数据；
对存储器进行第一擦除操作，所述第一擦除操作持续第一时间；
对存储器完成第一擦除操作后，判断所述存储器中的信息是否实现有效擦除；
如果所述存储器中的信息实现了有效擦除，则所述存储器为良品；
如果所述存储器中的信息未实现有效擦除，对所述存储器继续进行第二擦除操作，所述第二擦除操作持续第二时间；
对存储器完成第二擦除操作后，判断所述存储器中的信息是否实现有效擦除；
如果所述存储器中的信息实现了有效擦除，则所述存储器为弱擦除产品；
如果所述存储器中的信息未实现有效擦除，则所述存储器为差品。
2.如权利要求1所述的存储器的可靠性测试方法，其特征在于，所述第一时间与所述第二时间的和与标准擦除时间相同。
3.如权利要求1所述的存储器的可靠性测试方法，其特征在于，所述第一时间与所述第二时间相同。
4.如权利要求1所述的存储器的可靠性测试方法，其特征在于，所述第一时间与所述第二时间不同。
5.如权利要求1所述的存储器的可靠性测试方法，其特征在于，在判断所述存储器为弱擦除产品之后，对所述存储器设置标识。
6.如权利要求5所述的存储器的可靠性测试方法，其特征在于，所述对所述存储器设置标识的步骤包括：在存储器的扇区内写入标示性的数据。
7.如权利要求5所述的存储器的可靠性测试方法，其特征在于，在对存储器进行第一测试之后还包括：对存储器进行老化处理，并对老化后的存储器进行第二测试。
8.如权利要求7所述的存储器的可靠性测试方法，其特征在于，在第二测试中，如果从存储器获取到所述标识，对所述存储器进行耐久力评价。
9.如权利要求7所述的存储器的可靠性测试方法，其特征在于，所述对存储器进行老化处理的步骤包括：使存储器在250℃的温度条件下持续72小时。
10.如权利要求1所述的存储器的可靠性测试方法，其特征在于，所述存储器为非易失存储器。
11.如权利要求10所述的存储器的可靠性测试方法，其特征在于，存所述存储器为闪存。
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