[发明专利]TFT-LCD基板的探测装置

说明书

技术领域

本发明涉及TFT-LCD（薄膜晶体管液晶显示器）阵列基板探测技术，尤其涉及一种TF-LCD基板探测装置的探针结构。

背景技术

液晶显示装置（LCD，Liquid Crystal Display）具有机身薄、省电、无辐射等众多优点，得到了广泛的应用。现有市场上的液晶显示装置大部分为背光型液晶显示装置，其包括液晶显示面板及背光模组（backlight module）。液晶显示面板的工作原理是在两片平行的玻璃基板当中放置液晶分子，通过玻璃基板通电与否来控制液晶分子改变方向，将背光模组的光线折射出来产生画面。

通常液晶显示面板由上基板（CF，Color Filter）、下基板（TFT，Thin Film Transistor)、夹于上基板与下基板之间的液晶（LC，Liquid Crystal）及密封胶框（Sealant）组成，其成型工艺一般包括：前段阵列（Array）制程（薄膜、黄光、蚀刻及剥膜）、中段成盒（Cell）制程（TFT基板与CF基板贴合）及后段模组组装制程（驱动IC与印刷电路板压合）。其中，前段Array制程主要是形成TFT基板，以便于控制液晶分子的运动；中段Cell制程主要是在TFT基板与CF基板之间添加液晶；后段模组组装制程主要是驱动IC压合与印刷电路板的整合，进而驱动液晶分子转动，显示图像。

灌入液晶的基板，在HVA（高电压激活（high-voltage-activated））制程通过UV1（紫外线）照射配向，并通过AOI（自动光学检验（Automated Optical Inspection））检查机检查配向的效果。无论是UV1还是AOI，都需要通过探测器（Probe）上的探针（pin）与TFT基板的面板检测信号输入端（pad）一一接触，从而对液晶进行加压。探测器上设有对应TFT基板的区块（block），区块上设有与TFT基板的面板检测信号输入端相对应的探针进而完成对液晶的加压。目前使用的探测器有两种：

1、升降式探测器：探测器首先前进到TFT基板的面板检测信号输入端下方位置，然后探测器上升，直到探针扎到TFT基板的面板检测信号输入端上，然后加压，从而完成HVA制程及AOI检测。

2、夹持式探测器：探测器首先上升到TFT基板的高度，然后探测器前进到TFT基板的面板检测信号输入端位置，接着区块上下两部分同时夹住TFT基板，探针扎在TFT基板的面板检测信号输入端上，然后加压，从而完成HVA制程及AOI检测。

但无论升降式探测器还是夹持式探测器均具有以下缺陷：一种探测器只能对一种尺寸的TFT基板进行加压。由于不同尺寸的TFT基板的TFT加压点位不同，这就要求其对应的区块上探针位置不同，所以针对不同尺寸的TFT基板，阵列检测（Array Checker）系列设备就需要更换探测器，并重新确认探针与TFT基板的接触状况及电压输出状况，此举既浪费产线时间，增加产线负荷，又容易换错探测器，而且在换探测器的过程中会产生碰撞风险。

发明内容

本发明的目的在于提供一种TFT-LCD基板的探测装置，可满足各种不同尺寸的TFT基板的检测需要，提高了产线的生产效率，并避免了现有更换探测器时产生碰撞的风险。

为实现上述目的，本发明提供一种TFT-LCD基板的探测装置，包括：机台主体、安装于机台主体上的电路板、安装于机台主体上的数个马达及分别安装于马达上的数个探针，所述马达和探针一一对应设置，所述电路板包括：可编程逻辑控制器及与可编程逻辑控制器电性连接的人机交互终端，所述数个马达及数个探针均与可编程逻辑控制器电性连接，所述数个探针的位置对应不同尺寸TFT基板的面板检测信号输入端的位置设置，所述可编程逻辑控制器通过马达驱动探针的升降。

所述可编程逻辑控制器包括：中央处理单元、与中央处理单元电性连接的存储单元、与中央处理单元电性连接的通信接口及与中央处理单元电性连接的电源模块，所述数个马达及数个探针与中央处理单元电性连接，所述人机交互终端通过所述通信接口与可编程逻辑控制器电性连接。

所述存储单元储存有对应各种尺寸TFT基板的马达驱动方法。

所述人机交互终端包括：与中央处理单元电性连接的按钮模块及与中央处理单元电性连接的显示模块，所述按钮模块用于马达驱动方法的设置及选择，所述显示模块用于辅助马达驱动方法的设置及选择。

通过菜单的方式进行马达驱动方法的选择。

所述马达驱动方法中对数个马达及数个探针按顺序进行编号。