[发明专利]故障跟踪的方法及装置

说明书

技术领域

本发明涉及处理器技术领域，尤其涉及一种故障跟踪的方法及装置。

背景技术

目前，片上网络NOC(英文全称为：Networks-on-Chip，中文全称为：片上网络)已经成为多核处理器和多处理器计算机核间通信的高效解决方案而被广泛采用。由于片上网络的集成度高，会造成片上路由器和片上网络链路因为发热、外部辐射等因素容易引起故障，使得系统不可靠甚至失效。因此，我们需要设计具有容错能力的系统。这就需要了解和分析系统设计方案在常见的故障发生时的故障行为和对系统的影响。

针对上述问题，现有技术一般采用以下做法：针对拟采用的NOC方案，在FPGA(英文全称为：Field-Programmable Gate Array，中文全称为：可编程逻辑门阵列)平台上实现RTL(英文全称为：Resistor Transistor Logic，中文全称为：晶体管逻辑)级别的仿真器，用以实现对片上路由器和片上链路的仿真。在上述技术方案中，在片上路由器和片上链路上设计相应的故障触发机关，并通过使用状态检测部件或观察仿真时序方式来记录和检测故障行为。

在实现上述现有技术提供的技术方案的过程中，发明人发现现有技术中存在如下问题：通过状态检测部件或观察仿真时序方式来记录和检测故障行为，只能粗略地记录检测到的故障行为，从而不能获得详细、完整的仿真全系统内部的故障信息。

发明内容

本发明的实施例提供一种故障跟踪的方法及装置，能够详细、完整地检测、记录仿真全系统内部的故障行为。

为达到上述目的，本发明的实施例采用如下技术方案：

一种故障跟踪的方法，包括：

当故障注入时，检测当前设备运行状态；

当检测到所述当前设备发生故障时，将所述当前设备确定为故障源，并使用故障源标识信息标识所述当前设备，将所述当前设备发送的故障数据确定为故障载体，并使用故障载体标识信息标识所述故障数据；

根据所述故障源以及所述故障载体，生成故障路径信息。

一种故障跟踪的装置，包括：

第一检测单元，用于当故障注入时，检测当前设备运行状态；

标识单元，用于当所述第一检测单元检测到所述当前设备发生故障时，将所述当前设备确定为故障源，并使用故障源标识信息标识所述当前设备，将所述当前设备发送的故障数据确定为故障载体，并使用故障载体标识信息标识所述故障数据；

生成单元，用于根据所述标识单元确定的所述故障源以及所述故障载体，生成故障路径信息

本发明实施例提供的故障跟踪的方法及装置。在故障注入时，检测当前设备的运行状态；如果检测到该设备发生故障时，则将这个设备标记为故障源，并将这个设备发出的故障数据标记为故障载体；然后根据故障源和故障载体，生成故障路径信息。由于现有技术提供的技术方案只能记录故障引发的现象，而本发明实施例的技术方案，可以检测故障行为，记录故障源和故障载体，并根据故障源和故障载体生成故障路径信息，从而能够详细描述故障路径，用以描述引起故障现象的具体故障行为，相比于现有技术提供的技术方案来说，能够更详细、完整地检测、记录仿真全系统内部的故障行为。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例1中的一种故障跟踪方法的流程图；

图2为本发明实施例2中的一种故障跟踪方法的流程图；

图3为本发明实施例2中的另一种故障跟踪方法的流程图；

图4为本发明实施例2中的另一种故障跟踪装置的组成框图；

图5为本发明实施例3中的一种故障跟踪装置的组成框图；

图6为本发明实施例3中的另一种故障跟踪装置的组成框图；

图7为本发明实施例3中的另一种故障跟踪装置的组成框图；

图8为本发明实施例3中的另一种故障跟踪装置的组成框图；

图9为本发明实施例4中的一种故障跟踪装置的组成框图。

具体实施方式