[发明专利]一种提高化学溶液法制备CeO2薄膜临界厚度的方法无效

专利信息
申请号: 201210318924.7 申请日: 2012-09-03
公开(公告)号: CN102864444A 公开(公告)日: 2013-01-09
发明(设计)人: 雷鸣;黄艺丹;赵勇;蒲明华;武伟;王文涛;张红;张勇 申请(专利权)人: 西南交通大学
主分类号: C23C20/08 分类号: C23C20/08;H01B13/00
代理公司: 成都中亚专利代理有限公司 51126 代理人: 王岗
地址: 610031 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 提高 化学 溶液 法制 ceo sub 薄膜 临界 厚度 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及化学法制备CeO2薄膜相关领域,CeO2薄膜是目前首选缓冲层材料,本发明属于高温超导涂层导体领域。

背景技术

第二代高温超导带材,由于其优良的本征电磁特性,尤其是其在高磁场下优良的载流能力,在电力系统中拥有广阔的应用前景。

高温超导涂层导体组成包括三部分,基底、缓冲层、超导层,缓冲层材料在其中既作为生长模板,又充当阻隔层,作用重大。目前,CeO2薄膜由于其具有与超导层极佳的匹配度和良好的化学稳定性,成为首选的缓冲层材料之一。但是,现有化学法制备的CeO2单层缓冲层材料临界厚度在50-70nm,厚度不够阻隔Ni的扩散,从而不能很好地起到作用。为提高CeO2单层缓冲层材料的厚度,目前已有采用物理气相沉积法制备稀土掺杂或锆掺杂CeO2单层缓冲层,其临界厚度可达200nm,但物理气相沉积方法系统复杂、成本昂贵、不适于大规模的工业化生产,故需要加以改进。

发明内容

本发明的目的在于克服物理气相沉积方法系统复杂,成本昂贵的缺点,在此提供一种价格低廉,有利于大规模工业化生产制备CeO2涂层导体缓冲层的方法,该方法制备工艺与物理法相比简单易行、成本低、不污染环境、可获得临界厚度达到150-200nm的RExCe1-xOy单层缓冲层。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案为,一种提高化学溶液法制备CeO2薄膜临界厚度的方法,其特征依次由以下步骤构成:

a、硝酸盐的制备:按稀土与铈的离子比x:1-x,0.01≤x≤0.5配制稀土硝酸盐与硝酸亚铈混合物;

b、胶体制备:将配制的稀土硝酸盐与硝酸亚铈溶解在高分子有机溶剂中; 

c、胶体涂敷与干燥:将b步中胶体涂覆于织构基底上,后干燥;

d、分解成相:将干燥样品放入通H2/Ar还原气氛的烧结炉中,经过350 oC-550 oC分解,后升温至1000oC-1200oC成相,随炉冷却。

根据本发明所述的一种提高化学溶液法制备CeO2薄膜临界厚度的方法,其特征在于:所述a步中,稀土为钇 (Y)、镧(La)、镨(Pr)、钕(Nd)、钐(Sm)、铕 (Eu)、钆(Gd)、铽(Tb)、镝 (Dy)、钬(Ho)、铒(Er)、铥(Tm)、镱(Yb)、镥(Lu)中的一种。

根据本发明所述的一种提高化学溶液法制备CeO2薄膜临界厚度的方法,其特征在于:所述b步中, 高分子有机溶剂为聚甲基丙烯酸或聚丙烯酸与N-N二甲基甲酰胺的聚合物,此溶解过程中引入超声仪器辅助,使得胶体获得离子水平上的均匀分布。

根据本发明所述的一种提高化学溶液法制备CeO2薄膜临界厚度的方法,其特征在于:所述c步中,织构基带可为:NiW合金基带、NiCr合金基带、NiAg合金基带以及其他织构基带中的一种。

根据本发明所述的一种提高化学溶液法制备CeO2薄膜临界厚度的方法,其特征在于:所述c步中,涂覆方法可为:旋涂法、提拉法、狭缝喷涂法等其中一种,涂覆时须保证薄膜厚度大于最小湿厚度,薄膜能够连续、完全覆盖基底。

根据本发明所述的一种提高化学溶液法制备CeO2薄膜临界厚度的方法,其特征在于:所述d步中,以1℃/min-5℃/min速率升至350 oC-550 oC ,保证高分子有机物和硝酸盐充分分解,后升温至1000oC-1200oC成相温度,保温1-2小时,随炉冷却。

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