[发明专利]Flash灵敏放大器有效
申请号: | 201210306027.4 | 申请日: | 2012-08-24 |
公开(公告)号: | CN102831921A | 公开(公告)日: | 2012-12-19 |
发明(设计)人: | 王源;黄鹏;杜刚;康晋锋;贾嵩;张兴 | 申请(专利权)人: | 北京大学 |
主分类号: | G11C7/06 | 分类号: | G11C7/06 |
代理公司: | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人: | 王莹 |
地址: | 100871*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | flash 灵敏 放大器 | ||
技术领域
本发明涉及集成电路技术领域,尤其涉及一种Flash灵敏放大器。
背景技术
Flash结构是现代集成电路设计必不可少的部分,随着工艺的发展以及移动互联、智能手机这样的新型产业的兴起,Flash以其读取速度快等优点在市场中占据着重要地位。集成电路(Integrated Circuit,IC)产业对于Flash设计有两个方面的需求需要重点考虑:一个是速度,另一个是功耗。速度更快,电路工作能力更强;功耗更低,则能够使电池提供更长久地续航时间。
图1是一种现有的适用于较低电源电压下的Flash灵敏放大器,其具有较好的工作速度。该电路的工作原理如下:
开始工作前,可以通过使能控制管,使得存储单元阵列电路侧(MAT side)用于与存储单元阵列相连的存储单元阵列位线BL置零电平,参考单元阵列电路侧(REF side)的参考单元阵列位线OUT1置为电源电压VDD。开始工作后,先对位线BL上的寄生电容CBL充电,将其预充到参考电压VREF,该过程也是对OUT1放电到VREF的过程。然后存储单元和参考单元开始导通,流经存储单元和参考单元的电流逐渐增大,存储单元和参考单元导通后电流大小不同(存储单元和参考单元的电流大小不同即意味着存储不同的信息,电流大小不同是因为存储单元管和参考单元管的阈值电压Vth不同,Vth不同用于表示存1还是存0),存储单元的电流和参考单元电流的不同是一个初置条件,它使得BL和OUT1上类似于加上了小的输入信号,经过电流放大电路第一级放大之后,BL和OUT1上的电压不同。然后由比较器OP对BL和OUT1上的电压进行二级放大,也即该电压差被进一步放大。此过程中,BL上的寄生电容CBL从0预充到VREF的过程是该放大器速度的主要限制因素。
在图1所示的Flash灵敏放大器中,晶体管M1-M6构成基本电流放大电路。晶体管M1、M2是差分放大对管。在存储单元和参考单元导通前通过晶体管M1、M2的电流大小相等,为直流偏置Ibias。M3、M4从M5镜像过来,可看成一个电流源,形成电流源形式的负载。M5、M6将VREF电压转换成M3、M4栅端的偏置电压。由差分电路特性可知,流经存储单元的电流IC和流经参考单元的电流IREF的微小电流差,能在BL和OUT1之间形成一个变化的电压信号,其大小为ΔVout=rout(IC-IREF),其中,rout为输出端的小信号(BL和OUT1的电压)等效电阻。经过电流放大电路后,该较小的电流差可以产生相对较大的电压差摆幅。参考电压VREF的作用是:当存储单元和参考单元开始导通前,基本电流放大电路的输出端(即为Flash存储器单元管的漏端)处在相等且稳定合适的电位,使得存储单元和参考单元仅仅由于阈值电压Vth不同而产生不同电流。
对于晶体管M1-M4,该四个晶体管构成了一个差分形式的放大器,由于电源电压VDD仅由1个PMOS晶体管(M2)的漏源电压和1个NMOS晶体管(M4)的漏源电压构成,因此晶体管M1-M4可以工作在较低的漏源电压下。
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