[发明专利]一种导光板透过率光谱的测试装置及方法有效

专利信息
申请号: 201210293346.6 申请日: 2012-08-16
公开(公告)号: CN102829959A 公开(公告)日: 2012-12-19
发明(设计)人: 鹿堃;颜凯;王贺陶;李智;布占场 申请(专利权)人: 京东方科技集团股份有限公司;北京京东方显示技术有限公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人: 韩国胜
地址: 100015 *** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 导光板 透过 光谱 测试 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种导光板透过率光谱的测试装置,其特征在于,包括:

混光腔单元,用于向待测导光板提供光谱连续、尺寸与待测导光板相适应的线状光源;

导光板放置单元,其位于混光腔单元的一侧,用于使得不同厚度的待测导光板的出光面接收足够的入光光源;

测试镜头,位于待测导光板的正上方,并可在待测导光板中心与待测导光板入光面之间水平移动。

2.如权利要求1所述的导光板透过率光谱的测试装置,其特征在于,所述混光腔单元包括:混光腔外壳,所述混光腔外壳内设有灯反射罩,所述灯反射罩中放置标准光源;

所述混光强外壳的一侧设有通光缝,所述标准光源和通光缝之间依次设有滤光片、均光片和可调漏光缝。

3.如权利要求2所述的导光板透过率光谱的测试装置,其特征在于,所述标准光源包括多个串联连接的标准灯。

4.如权利要求3所述的导光板透过率光谱的测试装置,其特征在于,所述灯反射罩由多个垂直方向上的截线为椭圆,水平方向上的截线为抛物线的曲面单元组成,每个曲面单元的水平截线焦点、垂直截线焦点均与一个标准灯重合;所述灯反射罩的垂直截线为椭圆的另一个焦点与通光缝相重合。

5.如权利要求3所述的导光板透过率光谱的测试装置,其特征在于,所述导光板放置单元包括导光板底座、高度垫片和反射片,所述导光板底座上放置不同厚度的高度垫片,所述高度垫片上放置反射片,在反射片上放置待测导光板。

6.如权利要求5所述的导光板透过率光谱的测试装置,其特征在于,所述导光板底座的上表面低于混光腔中的通光缝,所述待测导光板的出光面朝上,入光面与混光腔的通光缝相对应。

7.一种利用权利要求1-6任一项所述的测试装置进行的导光板透过率光谱的测试方法,其特征在于,

测量导光板的出光光谱值;

测量导光板的入光光谱值;

导光板透过率光谱值=出光光谱值/入光光谱值。

8.如权利要求7所述的测试方法,其特征在于,所述测量导光板的出光光谱值具体包括步骤:

选择适当高度的高度垫片,将待测导光板及反射片放置在高度垫片上,使待测导光板的入光面与混光腔中通光缝相对应;

根据待测导光板的厚度选择合适宽度的漏光缝,使漏光缝的宽度小于导光板的厚度;

点亮标准灯,待光谱稳定;

将测试镜头移动至待测导光板的中心点,读取出光光谱。

9.如权利要求7所述的测试方法,其特征在于,所述测量导光板的入光光谱值具体包括步骤:

出光光谱测试完毕后,保持混光腔单元状态不变,撤掉高度垫片、反射片、待测导光板;

安装45度角的反射镜;移动测试镜头,对准反射镜内所反射出的漏光缝成像,读取入光光谱。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于京东方科技集团股份有限公司;北京京东方显示技术有限公司,未经京东方科技集团股份有限公司;北京京东方显示技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210293346.6/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top