[发明专利]三维测量设备和三维测量方法有效

专利信息
申请号: 201210291454.X 申请日: 2012-08-15
公开(公告)号: CN102954770A 公开(公告)日: 2013-03-06
发明(设计)人: 高林志几 申请(专利权)人: 佳能株式会社
主分类号: G01B11/25 分类号: G01B11/25
代理公司: 北京魏启学律师事务所 11398 代理人: 魏启学
地址: 日本东京都大*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 三维 测量 设备 测量方法
【权利要求书】:

1.一种三维测量设备,包括投影单元和摄像单元,其中所述投影单元用于对预定图案进行投影,并且所述摄像单元用于对投影了所述图案的被摄体进行拍摄,所述三维测量设备还包括:

检测单元,用于在所述摄像单元所拍摄的图像中,检测被投影到测量空间内的同一平面上预先设置的多个图案检测区域的所述图案在摄像像素面上的位置信息;以及

对应关系计算单元,用于使用所述位置信息,来计算测量之前预先检测到的所述投影单元的投影像素面上的所述图案与测量时所述投影单元的投影像素面上的所述图案之间的对应关系。

2.根据权利要求1所述的三维测量设备,其中,还包括测量处理单元,所述测量处理单元用于使用所述对应关系计算单元所计算出的所述对应关系,来改变测量时所述摄像单元的摄像像素面上的所述图案和所述投影单元的投影像素面上的所述图案之间的对应关系。

3.根据权利要求1所述的三维测量设备,其中,所述对应关系计算单元所计算出的所述对应关系是投影变换。

4.根据权利要求1所述的三维测量设备,其中,投影到所述图案检测区域的所述图案是所述测量空间内的一维方向的图案。

5.根据权利要求1所述的三维测量设备,其中,所述对应关系计算单元使用极线约束来计算所述对应关系。

6.根据权利要求1所述的三维测量设备,其中,所述对应关系计算单元通过利用测量前所述图案在所述摄像像素面上的位置信息与测量时所述图案在所述摄像像素面上的位置信息所进行的线性插值,来计算所述对应关系。

7.一种三维测量设备的三维测量方法,所述三维测量设备包括投影单元和摄像单元,其中所述投影单元用于对预定图案进行投影,并且所述摄像单元用于对投影了所述图案的被摄体进行拍摄,所述三维测量方法包括以下步骤:

检测步骤,用于在所述摄像单元所拍摄的图像中,检测被投影到测量空间内的同一平面上预先设置的多个图案检测区域的所述图案在摄像像素面上的位置信息;以及

计算步骤,用于使用所述位置信息,来计算测量之前预先检测到的所述投影单元的投影像素面上的所述图案与测量时所述投影单元的投影像素面上的所述图案之间的对应关系。

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