[发明专利]一种延时芯片的延时时间的检测装置有效
申请号: | 201210249364.4 | 申请日: | 2012-07-19 |
公开(公告)号: | CN102736020A | 公开(公告)日: | 2012-10-17 |
发明(设计)人: | 邵峰;胡小华;贺小建 | 申请(专利权)人: | 湖北三江航天红林探控有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 北京市德权律师事务所 11302 | 代理人: | 刘丽君 |
地址: | 432000 *** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 延时 芯片 时间 检测 装置 | ||
技术领域
本发明涉及检测装置技术领域,主要适用于延时芯片的延时时间的检测装置。
背景技术
延时芯片是某产品中的关键元器件,必须对其进行验收检验,而延时芯片的延时时间又是关键参数。以往都是单路手动人工计时的,不但费时费力,而且因为是手动人工计时,时间检验误差大。工作人员有时因为长时间等待,导致思想放松,从而错过了延时时间的读取时机,进而导致测不到时间,前功尽弃。
随着产品被大批量的生产,器件的数量会剧增,生产进度要求很紧。因此,要求有一种能够自动化测量延时芯片的延时时间的专用检测装置。现有通用的测时仪器,都是单路测量短时间的,并且仪器启动和停止测量电路都不满足延时芯片的检测要求,需要搭建临时电路,这样不仅容易造成失误,而且不能适应大批量芯片的测时。最初也做过一种测时装置,但却是一种临时性质的,同时需要人工手动计时,费时费力,也不能满足产品批量生产的需要。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是提供一种延时芯片的延时时间的检测装置,它能够自动化的对延时芯片的延时时间进行测量,并且通过接口扩展技术,实现同时对多路延时芯片的延时时间的测量,从而在减少测试人员的劳动强度的同时提高了测试效率。
为解决上述技术问题,本发明提供了一种延时芯片的延时时间的检测装置包括:电源电路、可编程控制器、继电器、显示电路;所述电源电路的第一输出端与所述可编程控制器的第一输入端连接,可编程控制器的第一输出端与所述显示电路的第一输入端连接,可编程控制器的第二输出端与所述继电器的第一输入端连接;电源电路的第二输出端、第三输出端分别与显示电路的第二输入端、第三输入端连接;继电器的触点与被测延时芯片的输入端连接,被测延时芯片的输出端与可编程控制器的第二输入端连接。
进一步的,所述电源电路包括:电源、电源变换器和电压调节器;所述电源变换器的输入端连接所述电源,电源变换器的第一输出端与所述可编程控制器的第一输入端连接,电源变换器的第二输出端、第三输出端分别与所述显示电路的第二输入端、第三输入端连接;所述电压调节器的输入端也与电源连接,电压调节器的输出端与所述继电器的第二输入端连接。
进一步的,还包括:数字隔离电路;所述被测延时芯片的输出端通过所述数字隔离电路与所述可编程控制器的第二输入端连接。
进一步的,还包括:看门狗电路;所述看门狗电路与所述可编程控制器连接。
进一步的,还包括:第一接口扩展电路和第二接口扩展电路;所述第一接口扩展电路的输入端与所述可编程控制器的第二输出端连接,所述第二接口扩展电路的输出端与可编程控制器的第二输入端连接。
进一步的,所述数字隔离电路包括:至少一个光电耦合器;所述继电器的个数至少为一;继电器的第一输入端各自分别与所述第一接口扩展电路的输出端连接,继电器的第二输入端均与所述电压调节器的输出端连接,继电器的触点各自分别一一对应的与被测延时芯片的输入端连接;所述光电耦合器相互并联构成并联电路;所述并联电路的输出端各自分别与所述第二接口扩展电路的输入端连接,并联电路的输入端各自分别与被测延时芯片的输出端连接。
进一步的,还包括:转接台;在所述转接台上设置有至少一个接线端子;所述接线端子连接所述继电器的触点和被测延时芯片的输入端。
进一步的,还包括:至少一个手动放电开关;所述手动放电开关包括:放电电阻和开关元件;所述放电电阻与所述开关元件串联构成串联电路,所述串联电路与被测延时芯片中的放电电容并联;开关元件从所述转接台上引出。
进一步的,所述电源变换器为隔离式DC-DC电源变换器。
进一步的,所述电压调节器为可调式电压调节器。
本发明的有益效果在于:
本发明提供的延时芯片的延时时间的检测装置能够自动化的对延时芯片的延时时间进行测量,并利用接口扩展技术,通过延长延时芯片的放电时间,并提高可编程控制器的检测速率,可以提高可编程控制器的时间采样速率,不仅实现了对延时芯片的延时时间的精确测量,而且保证了在极端恶劣情况下能够对延时时间不同的多路延时芯片的延时时间进行测量,从而在减少测试人员的劳动强度的同时提高了测试效率和精度。本发明结构合理、可靠性高、实用性强。
附图说明
图1为本发明实施例提供的延时芯片的延时时间的检测装置的内部电路框图。
图2为本发明实施例提供的延时芯片的延时时间的检测装置的装置本体的主视图。
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