[发明专利]测量条纹管最小探测能量密度的装置及其测量方法

权利要求书

1.测量条纹管最小探测能量密度的装置，其特征在于，它包括激光器（7）、衰减片组（1）、窄带滤光片（2）、光子计数器（3）、分束镜（4）、衰减片（5）和计算机（6）；激光器（7）发射的激光经过衰减片组（1）入射至窄带滤光片（2），经窄带滤光片（2）过滤后的激光入射至分束镜（4），经分束镜（4）的透射的光入射至衰减片（5），透过衰减片（5）的光入射至被测条纹管的光电阴极，经分束镜（4）的反射的光入射至光子计数器（3），被测条纹管的成像信号输出端与计算机（6）的成像信号输入端连接，光子计数器（3）的计数信号输出端与计算机（6）的计数信号输入端连接。

2.根据权利要求1所述的测量条纹管最小探测能量密度的装置，其特征在于，分束镜（4）的反射与透射比为3:1。

3.根据权利要求1所述的测量条纹管最小探测能量密度的装置，其特征在于，所述衰减片（5）为1/12衰减片。

4.根据权利要求1所述的测量条纹管最小探测能量密度的装置，其特征在于，窄带滤光片（2）为532nm窄带滤光片。

5.根据权利要求1所述的测量条纹管最小探测能量密度的装置，其特征在于，光子计数器（3）为光电倍增管光子计数器。

6.基于权利要求1所述的测量条纹管最小探测能量密度的装置的测量方法，其特征在于，

步骤一：打开激光器（7），利用能量计测量入射至条纹管光电阴极上的光能量，调整衰减片组（1）的衰减率，使入射光能足够触发能量计，并能区分光能总量的0.1%的变化，再利用刀口仪测量此时条纹管光电阴极上的光斑半径ω；

步骤二：调整衰减片组（1）的衰减率，使条纹管光电阴极上的入射光能量接近其探测极限；

步骤三：在步骤二的条件下，读取光子计数器（3）上的光子数N_信号；

步骤四：根据步骤三中测得的光子计数器（3）上的光子数N_信号计算光斑总能量I，然后根据所述光斑总能量I和步骤一中测得的条纹管光电阴极上的光斑半径ω，利用公式I=∫02πdθ∫0+∞A·e-2r2ω2dr,]]>计算出最小探测能量密度A。

7.基于权利要求1所述的测量条纹管最小探测能量密度的装置的测量方法，其特征在于，根据步骤三中测得的光子计数器上的光子数N_信号计算光斑总能量I的方法为：其中，η为光子计数器（3）的量子效率，n为分束镜（4）的反射与透射比，m为衰减片（5）的透过比。