[发明专利]用于检测芯片内工作电路的电压与频率关系的电路及方法有效

专利信息
申请号: 201210223670.0 申请日: 2012-06-29
公开(公告)号: CN102759702A 公开(公告)日: 2012-10-31
发明(设计)人: 廖裕民 申请(专利权)人: 福州瑞芯微电子有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 福州市鼓楼区京华专利事务所(普通合伙) 35212 代理人: 宋连梅
地址: 350000 福建省*** 国省代码: 福建;35
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摘要:
搜索关键词: 用于 检测 芯片 工作 电路 电压 频率 关系 方法
【权利要求书】:

1.一种用于检测芯片内工作电路的电压与频率关系的电路,其特征在于,包括:

存储有激励数据的存储器,与所述芯片内工作电路连接,负责所述芯片内工作电路在各种电源电压和时钟频率配置稳定下,向芯片内工作电路输入激励数据;

控压电源单元,与所述芯片内工作电路和存储器连接,负责根据一档位控制电路的控制来产生对应的工作电压给芯片内工作电路,当一时钟产生电路对时钟频率进行切换过程中,判断新时钟频率是否稳定,是则输出时钟频率稳定信号给存储有激励数据的存储器;

时钟产生电路,与所述芯片内工作电路和存储器连接,负责根据档位控制电路的控制来产生对应的工作时钟频率给芯片内工作电路,当所述控压电源单元的电压调节过程中,判断新电压值是否稳定,是则输出电源电压稳定信号给存储有激励数据的存储器;

档位控制电路,与所述控压电源单元和时钟产生电路连接,负责控制所述控压电源单元来调整电源电压和控制时钟产生电路来调整工作电路时钟频率;

结果判断电路,与所述芯片内工作电路连接,根据芯片内工作电路得到响应激励数据后输出的结果来判断当前芯片内工作电路是否能正常工作,并判断是否将每个电压下最大工作时钟频率值写入到一DVFS表格中。

2.根据权利要求1所述用于检测芯片内工作电路的电压与频率关系的电路,其特征在于:所述芯片内工作电路是测试的目标电路,在给定的电源电压和时钟频率下工作,在输入存储器的激励数据后,进行处理输出响应结果给所述结果判断电路。

3.根据权利要求1所述用于检测芯片内工作电路的电压与频率关系的电路,其特征在于:所述档位控制电路和结果判断电路是工作于低频时钟下,其为保证所述芯片内工作电路测试过程中电路功能的正确性。

4.一种用于检测芯片内工作电路的电压与频率关系的方法,其特征在于:包括如下步骤:

步骤1、档位控制电路从芯片内工作电路能工作的最大电源电压开始测试;

步骤2、在该电源电压档位下,档位控制电路开始控制时钟产生电路从最大时钟频率开始测试;

步骤3、当时钟产生电路输出的时钟频率稳定信号和控压电源单元输出的电源电压稳定信号都有效时,存储有激励数据的存储器开始向芯片内工作电路输入激励数据;

步骤4、芯片内工作电路接收激励数据进行处理后输出响应结果给所述结果判断电路,结果判断电路判断接收的响应结果是否正确;是,则进入步骤5;否,则进入步骤6;

步骤5、将所述电源电压档位对应的最大时钟频率写入一DVFS表格,并将正确的响应结果反馈给档位控制电路,所述档位控制电路开始下一个电源电压档位的测试,即电源电压调整为比所述电源电压档位更低的一档,时钟频率继续从所述最大时钟频率开始遍历;

步骤6、将错误的响应结果反馈给档位控制电路,所述档位控制电路会在所述电源电压档位下去控制所述时钟产生电路产生比当前工作错误的时钟频率档位更低一档的时钟频率进行测试;如此不断循环,直到找到所述电源电压档位下,芯片内工作电路能正确工作的时钟频率;并将此时的电源电压档位对应的能正确工作的时钟频率写入所述DVFS表格中。

5.根据权利要求4所述用于检测芯片内工作电路的电压与频率关系的方法,其特征在于:所述芯片内工作电路是测试的目标电路,在给定的电源电压和时钟频率下工作,在输入存储器的激励数据后,进行处理输出响应结果给所述结果判断电路。

6.根据权利要求4所述用于检测芯片内工作电路的电压与频率关系的方法,其特征在于:所述档位控制电路和结果判断电路是工作于低频时钟下,其为保证所述芯片内工作电路测试过程中电路功能的正确性。

7.根据权利要求4所述用于检测芯片内工作电路的电压与频率关系的方法,其特征在于:所述步骤6之后进一步包括:

步骤7、在带有所述芯片的一操作系统开始工作时,操作系统要判断该芯片内的各个工作电路所需要的时钟频率时,只需要查询所述DVFS表格就能得到所需的最小的电源电压,从而节省了操作系统的功耗。

8.根据权利要求4所述用于检测芯片内工作电路的电压与频率关系的方法,其特征在于:所述DVFS表格是存储在芯片内或者存储在芯片外的存储设备中。

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