[发明专利]触控装置及其触控点位置校准方法

说明书

技术领域

本发明是有关于一种触控装置及其触控点位置校准方法，且特别是有关于一种可提高使用者触控准确率的触控装置及其触控点位置校准方法。

背景技术

近年来，随着触控技术的进步以及电子产品的各项应用的快速发展，触控装置已变得十分普及。但往往使用者在使用具有触控功能的电子产品时，使用者所欲得到的触控点与实际电子产品所检测到的点实际上常产生位置上的落差，此落差通常为一垂直位置的误差，现今一般触控装置的设计很少将此落差做为判读触控点位置的影响因素之一，因此常常发生使用者无法按照所预期得到的触控点位置的情形。且随着使用着操作装置的方式不同，这种偏差问题更显严重。

举例来说，图1为已知的调整触控点位置的示意图。请参照图1，一般已知的触控点位置校准方式为先利用使用者使用的输入工具(例如手指或触控笔)接触触控装置的面积计算出中心点做为一原始触控点位置P1(如图1左图所示)，然后再以原始触控点位置P1为基准，在其上方(如图1右图所示)一预设距离处的位置做为校准触控点位置P2。此方式虽可达到触控点位置校准的目的，然因使用者使用触控装置的方式并不相同，例如使用者可能以单手握住触控装置进行操作，也可能以双手握住触控装置进行操作，此外，使用者触击触控装置的角度也有可能不同，这些原因都会降低已知触控点位置校准的准确度。基于上述原因，已知的触控点位置校准方式仅在特定的条件下才具有准确性。

发明内容

本发明提供一种触控装置及其触控点位置校准方法，可提高使用者的触控动作的准确率。

本发明提出一种触控装置，包括一触控检测单元、一空间状态检测单元以及一控制单元。其中触控检测单元检测使用者的触控动作，以产生一触控信号。空间状态检测单元检测触控装置的空间状态。控制单元耦接触控检测单元与空间状态检测单元，依据触控信号判读出一原始触控点位置，并依据触控装置的空间状态调整原始触控点位置，以得到一校准触控点位置。

在本发明一实施例中，上述的控制单元还依据触控装置的空间状态判断使用者拿持触控装置的方式，并据以调整原始触控点位置。

在本发明一实施例中，上述的控制单元还依据使用者拿持触控装置的方式在触控检测单元上定义出多个预设触控区域，并依据各预设触控区域所对应的触控点位置调整参数调整原始触控点位置。

本发明也提出一种触控装置的触控点位置校准方法，包括下列步骤。检测触控装置的空间状态。检测使用者的一触控动作，以产生一触控信号。依据触控信号判读出一原始触控点位置。依据触控装置的空间状态调整原始触控点位置，以得到一校准触控点位置。

在本发明一实施例中，上述的触控装置的空间状态包括触控装置的倾斜角度以及运动状态。

在本发明一实施例中，上述的运动状态包括摆动与震动。

在本发明一实施例中，上述依据触控装置的空间状态调整原始触控点位置的步骤包括依据触控装置的空间状态判断使用者拿持触控装置的方式，并据以调整触控信号所对应的触控位置。

在本发明一实施例中，上述调整触控信号所对应的触控位置的步骤包括下列步骤。依据使用者拿持触控装置的方式在触控检测单元上定义出多个预设触控区域。依据各预设触控区域所对应的触控点位置调整参数调整触控位置。

在本发明一实施例中，上述触控点位置调整参数包括校准触控点位置相对于原始触控点位置的方位与距离。

基于上述，本发明藉由依据触控装置的空间状态来调整原始触控点位置，以得到校准触控点位置，让使用者可更容易触控到所欲触控的位置，进而大幅降低误操作的情形。

为让本发明的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合附图作详细说明如下。

附图说明

图1为已知的调整触控点位置的示意图；

图2为本发明一实施例的触控装置的示意图；

图3为本发明一实施例的调整触控点位置的示意图；

图4为本发明一实施例的触控装置的空间状态示意图；

图5A-5C为本发明另一实施例的调整触控点位置的示意图；

图6为本发明一实施例的触控装置的触控点位置校准方法。

附图标记说明：

P1：原始触控点位置；

P2：校准触控点位置；

200：触控装置；

202：触控检测单元；

204：空间状态检测单元；

206：控制单元；

S1：触控信号；

X1、Y1：原始坐标轴；