[发明专利]一种动态测量绝缘介质性能的装置有效

专利信息
申请号: 201210144890.4 申请日: 2012-05-11
公开(公告)号: CN102636697A 公开(公告)日: 2012-08-15
发明(设计)人: 曾彩萍 申请(专利权)人: 湘潭电机股份有限公司
主分类号: G01R27/02 分类号: G01R27/02;G01R27/26
代理公司: 湘潭市汇智专利事务所 43108 代理人: 颜昌伟
地址: 411101 湖南*** 国省代码: 湖南;43
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摘要:
搜索关键词: 一种 动态 测量 绝缘 介质 性能 装置
【说明书】:

技术领域

发明涉及绝缘介质性能测试,尤其涉及一种动态测量绝缘介质性能的装置。

背景技术

绝缘电阻和介质损耗等绝缘性能是绝缘介质的重要参数,是绝缘介质绝缘性能的重要表征。以往都是先将液体绝缘树脂制作成固态的标准样品——漆饼或漆片,最后再对固化完工后的漆饼或漆片进行测试。如测量其绝缘电阻时,采用标准电极和高阻计进行测试。测量出的绝缘电阻仅为固态测试样品的静态绝缘电阻,而不能测量出该绝缘介质的动态绝缘电阻。此外,这种测试装置一般只限于测试绝缘介质的绝缘电阻,当需要对绝缘介质进行其它性能测试如电容、介质损耗、反应放热峰等时,必须采用其他仪器进行测试,且测量出的结果均为固态测试样品的静态绝缘性能,这样,样品在固化过程中的参数变化无法得到测量和记录。而这些变化的参数对于判断样品在外界因素如温度、时间、压力等条件下,其固化程度、性质的变化、以及绝缘介质的应用工艺确定是非常重要的。

发明内容

本发明的目的在于克服以上缺陷,提供一种能动态测量绝缘介质性能的装置。

本发明的动态测量绝缘介质性能的装置的技术方案是,一种能动态测量绝缘介质性能的装置,其包括,正电极、负电极、绝缘介质性能测量仪器,还包括器皿、加热器、温度计,所述加热器置于器皿的底部,温度计置于器皿内中心部位,正电极和负电极之间的距离为待测绝缘介质的厚度,所述液体绝缘介质注入正电极和负电极之间。

为了器皿和测量极之间的绝缘、测量极的固定、尺寸定位,所述器皿上部设有固定架,为了保温、清洁并防止反应过程中的物质挥发,固定架做成盖板状, 为了便于观测,所述盖板为透明状。

所述器皿为金属器皿,所述器皿同时作为负电极。

为了控制反应温度,还设有温度调节装置,所述温度调节装置用于调节加热器的加热温度。

为了利于不同厚度的绝缘介质的测量,所述正电极和负电极之间的距离能上下调节。

为了测量绝缘介质的动态绝缘电阻,所述绝缘介质性能测量仪器为高阻计。

为了测量绝缘介质的动态电容,所述绝缘介质性能测量仪器为电容表。

为了测量绝缘介质的动态绝缘介质损耗,所述绝缘介质性能测量仪器为电桥。

为了测量绝缘介质的动态反应放热峰,在待测绝缘介质中预置热电偶,测得绝缘介质反应时的温度曲线。

所述热电偶为Pt100电阻。

此装置还可间接应用于其它领域,如化工领域用于检测液态原料中难以分离的水份和杂质;在自动化控制领域作为在线参数采集装置等。

本发明的技术效果是,由于绝缘介质在加热前为液态,加热过程中,绝缘介质逐渐变为固态,在固化前,有可流动的渡态介质流入测量极之间,使介质始终与测量极保持接触,在整个固化阶段,所测介质的性能在不断变化,所策数据也在不断变化,并得以记录。在固化完全后,绝缘介质的性能不再变化,所测性能参数也就恒定不变。

附图说明

图1为本发明的结构示意图。

具体实施方式

实施例1,参照附图,为测量动态绝缘电阻时的装置,其中包括,正电极3、金属器皿8、高阻计9、加热器10、温度计5、绝缘盖板7,金属器皿8作为负电极,加热器10置于金属器皿8的底部,为了控制反应温度,加热器10还设有温度调节装置,温度计5置于金属器皿8内中心部位,正电极3和金属器皿8内表面之间的距离为待测绝缘介质11的厚度,在金属器皿8的上凸缘上设有绝缘盖板7,正电极3通过螺钉Ⅱ2固定在绝缘盖板7的下方,在正电极3的中上部设有正极引出端4,正极引出端4穿过绝缘盖板7的中部与测量线连接,在正电极3的外圆设有环形保护极6(作用),绝缘盖板7通过螺钉Ⅰ1固定在金属器皿8上,为了便于观测绝缘盖板7为透明状,在绝缘盖板7上开有液体绝缘介质注入孔,液体绝缘介质注入正电极3和金属器皿8内表面之间,通过调整螺钉Ⅰ1,可以调整待测试绝缘介质11的厚度以及试绝缘介质11之间的平行度。

测量时,将绝缘介质11倒入金属器皿8中并漫过正电极3底面2~4mm,启动加热器10,快速加热到规定要求的温度,开始记录时间、温度和电阻值,根据电阻值变化的速度确定测试间隔时间并做好以上记录,直到电阻值稳定不变。这样,就得到了绝缘介质11由液态到固态的变化过程中的绝缘电阻值。

实施例2,为测量动态反应放热峰的装置,将实施例1中预置Pt100电阻12,即可实现待测试绝缘介质11的动态绝缘电阻或介质损耗的变化,同时可以测得绝缘介质11的动态反应放热峰。

以上只是本发明的两个实施方式,两个优选示范例。本发明的保护范围并不只限于上述实施方式。凡与本实施例等效的技术方案如将高阻计改为为电容表用于测量绝缘介质11的动态电容,以及将高阻计改为电桥用于测量绝缘介质11的动态介质损耗,或着将该装置间接应用于其它领域,如化工领域用于检测一些液态原料中难以分离的水份和杂质,在自动化控制领域作为在线参数采集装置等,均属于本发明的保护范围。

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