[发明专利]一种基于NI数据采集设备的多针连接器电气性能测试系统无效

专利信息
申请号: 201210083524.2 申请日: 2012-03-27
公开(公告)号: CN102621418A 公开(公告)日: 2012-08-01
发明(设计)人: 阚仁根;陈志超;刘宏欣;刘华;袁海骥 申请(专利权)人: 科纳技术(苏州)有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 215121 江苏省苏州市工业园*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 ni 数据 采集 设备 连接器 电气 性能 测试 系统
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种多针连接器的电气性能测试系统,尤其是指一种基于NI数据采集设备的多针连接器电气性能测试系统。本发明广泛适用于要求检测多针连接器电学性能的各个领域,尤其是适用于大型企业对批量多针连接器电学性能的测试,操作简单方便、灵活性及多用性强。

背景技术

目前,在通信、医疗、测试等设备中与外界通讯的连接器的电气性能要求越来越高,越来越多的设备需要测试连接器多针间的短开路状况。

然而目前对多针连接器电气性能测试设备主要有开路和短路测试。在测试多针间的电气性能时要么测试是否短路,要么测试是否开路,不能任意配置多针间的短、开路状况。如果把连接器装配到电路板上,则连接器的多针间短路和开路状况会并存。因此,传统的测试设备就无法对其进行测试测试,而是直接由作业人员用万用表一个一个针进行测试,测试时间长,效率差,而且还会因为作业人员的操作失误造成误测。

发明内容

为了快速方便精确的对多针连接器的电气性能进行测试测试,本发明提出了一种基于NI数据采集设备的多针连接器电气性能的测试系统。该测试系统操作简单方便,灵活性强可以任意配置测试针的数量,多用性强可以任意配置多针间短开路状况,而且使用环境要求低、应用广泛在需要测试连接器的领域都可以使用,因此适用于大型企业对批量多针连接器电学性能的测试。

本发明所采用的技术方案为:

本方案以NI USB-6501为例对多针连接器进行电气性能测试。首先通过USB-6501对需要测试针上输出一个电压,然后通过USB-6501去检测其余针上的电压,判断是否是所有的针全部测试完毕,如果没有测试完毕,则需要继续对测试针上输出一个电压,再通过USB-6501去检测其余针上的电压,再判断是否是所有的针全部测试完毕,直至所有的针全部测试完毕。如果测试完毕,则使用自行编写的基于Labview的测试程序将采集的数据与标准的数据列进行比较,如果相同,则表示所有的针之间的短开路状况符合我们的要求;如果没有则说明测试的连接器不符合我们的要求。

一种基于NI数据采集设备的多针连接器电气性能测试系统,其特征在于:包括测试程序、NI数据采集卡、USB数据线、排线及待测多针连接器,其中NI数据采集卡用于发送和采集数据。

进一步地,前述的一种基于NI数据采集设备的多针连接器电气性能测试系统,其特征在于测试程序利用Labview测试软件来与数据采集卡进行通讯,处理数据,并针对用户需要任意配置测试针的数量或任意配置多针间短开路状况来设置标准数据列。

进一步地,前述的一种基于NI数据采集设备的多针连接器电气性能测试系统,其特征在于测试程序在输入口采集的数据形成一个数据列,通过数据列与标准数据列的比较来判断多针间的短开路状况

进一步地,前述的一种基于NI数据采集设备的多针连接器电气性能测试系统,其特征在于该系统在测试结束后,不仅显示测试的多针连接器时候通过测试,对未通过测试的多针连接器还会在测试程序中显示。

本发明的系统稳定、快速方便精确、对环境要求不高,可以应用广泛在需要测试连接器的领域,尤其适用于大型企业对批量多针连接器电学性能的测试,成本低,速度快。

附图说明

图1为一种基于NI数据采集设备的多针连接器电气性能测试系统结构图。

图中各附图标记的含义为:

1~测试程序;2~NI数据采集卡;3~USB数据线;4~排线;5~待测多针连接器。

图2为基于NI数据采集设备的多针连接器电气性能测试系统的测试流程图。

图3为基于Labview的测试程序操作界面。

具体实施方式

为了快速方便精确的对多针连接器的电气性能进行测试测试,本发明提出了一种基于NI数据采集设备的多针连接器电气性能的测试系统。该测试系统操作简单方便,灵活性强可以任意配置测试针的数量,多用性强可以任意配置多针间短开路状况,而且使用环境要求低、应用广泛在需要测试连接器的领域都可以使用,因此适用于大型企业对批量多针连接器电学性能的测试。该电气性能测试系统包含电脑1;NI数据采集卡2;USB数据线3;排线4;待测多针连接器5。下面具体详细说明基于NI USB-6501数据采集卡的多针连接器电气性能测试系统的具体实施方式。

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