[发明专利]一种硅钢宽度方向厚度均匀性检测装置及其检测方法

权利要求书

1.一种硅钢宽度方向厚度均匀性检测装置，其特征在于，所述检测装置包括控制面板、测量装置、测量架和轨道，所述控制面板与所述测量装置、测量架相连，所述测量装置安装在所述测量架上，所述测量架连接轨道，所述测量架运行方向与硅钢宽度方向一致。

2.根据权利要求1所述的一种硅钢宽度方向厚度均匀性检测装置，其特征在于，所述测量装置为单点射线测厚仪。

3.根据权利要求1或2所述的一种硅钢宽度方向厚度均匀性检测装置，其特征在于，所述检测装置还包括测量系统平台、自动分析数据库和显示屏幕，所述射线测厚仪与所述测量系统平台、自动分析数据库和显示屏幕相连。

4.根据权利要求3所述的一种硅钢宽度方向厚度均匀性检测装置，其特征在于，所述测量架为C形测量架(1)。

5.根据权利要求3所述的一种硅钢宽度方向厚度均匀性检测装置，其特征在于，所述测量系统平台内设有分析模块，所述分析模块通过逻辑分析，可计算出硅钢宽度方向厚度各测量点的最大值、最小值、平均值，所述测量系统平台与所述显示屏幕相连。

6.根据权利要求3所述的一种硅钢宽度方向厚度均匀性检测装置，其特征在于，所述测量系统平台还包括移动控制模块，移动控制模块分别控制所述C形测量架(1)停留在硅钢宽度方向的预设位置，所述测量系统平台与所述控制面板相连。

7.一种硅钢宽度方向厚度均匀性检测方法，其特征在于，

第一步，单点射线测厚仪安装在C形检测架上，检测架连接轨道；

第二步，在硅钢宽度方向上预设A、B、C、D、E等间隔测量点，在C型检测架移动轨道上预设对应的制动点；

第三步，C形检测架通过轨道带动单点射线测厚仪硅钢宽度方向运行，其中，测量A点时，在控制面板上按“A”按键，C形测量架(1)向A点移动，移动到位停止后，指示灯报警，然后按“测量”按键，测厚仪测量，测量到一定的数据后，按“停止”，取消测量，以此类推，对B、C、D、E点进行测量；

第四步，运行自动分析数据库，数据改卷卷号，就可显示各个测量点的厚度最大值、最小值、平均值、各个测量点之间的厚度差最大值、最小值、平均值等信息，及图表分析；

第五步，按结束按钮，单点射线测厚仪停止工作时，C形检测架通过轨道自动开出生产线。