[发明专利]平移式微焦CT检测装置在线检测电子元件的方法有效
申请号: | 201210065306.6 | 申请日: | 2012-03-13 |
公开(公告)号: | CN102590248A | 公开(公告)日: | 2012-07-18 |
发明(设计)人: | 曾理;余维;郭吉强;刘宝东 | 申请(专利权)人: | 重庆大学 |
主分类号: | G01N23/04 | 分类号: | G01N23/04 |
代理公司: | 北京同恒源知识产权代理有限公司 11275 | 代理人: | 赵荣之 |
地址: | 400044 *** | 国省代码: | 重庆;85 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 平移 式微 ct 检测 装置 在线 电子元件 方法 | ||
1.平移式微焦CT检测装置在线检测电子元件的方法,包括射线产生装置、射线探测及数据采集装置、控制及图像处理系统和平移式传送装置;所述射线产生装置(1)、射线探测及数据采集装置(2)、平移式传送装置(3)的信号线路与控制及图像处理系统(7)相连,平移式传送装置(3)与电子元件生产线(8)相邻接,射线产生装置(1)靠近传送装置(3)并位于传送装置(3)上方,射线探测及数据采集装置(2)远离传送装置(3)并位于传送装置(3)下方,射线产生装置(1)和射线探测及数据采集装置(2)固定不动,待检电子元件(4)置于传送装置(3)上并与之保持相对静止状态,在控制及图像处理系统(7)的控制下,电子元件(4)随传送装置(3)以横向平移的方式运动,其特征在于:工作过程包括以下步骤:
S1:启动射线产生装置、射线探测及数据采集装置、控制及图像处理系统和平移式传送装置;
S2:射线产生装置产生的锥形射线束对电子元件进行扫描,射线探测及数据采集装置获得射线投影数据;
S3:控制及图像处理系统接收射线投影数据;
S4:得到待检电子元件的数字式辐射成像DR图像;
S5:判断DR图像中是否存在缺陷区域;如果否,则转S1;
S6:如果是,则重建待检电子元件内外结构的三维计算机层析成像CT图像。
2.根据权利要求1所述的平移式微焦CT检测装置在线检测电子元件的方法,其特征在于:所述步骤S6中的重建待检电子元件内外结构的三维计算机层析成像CT图像是通过采用基于子区域平均化和总变差最小化的平移式锥束CT的迭代重建算法重建出三维CT图像的体数据,每次迭代包括以下三步:
S61:投影到凸集POCS:设待重建区域R的大小为N个点,用f(x,y,z)表示位于点(x,y,z)处的体数据为fx,y,z,将体数据逐点排列成向量设经过区域R的扫描射线数为M条,将射线投影数据按射线逐条排列为向量W=(wij)为M×N维投影系数矩阵,其中wij表示第j个点对第i条射线投影数据的贡献率;
待重建区域R首先采用下面加型代数迭代公式进行重建:
其中,是电子元件的待重建区域R的体数据的向量分量,是电子元件的待重建区域R的体数据向量分量的初始值,pi表示第i条射线对应的投影数据,k为迭代次数,λ为松弛因子,实验中取λ=1;
再引入非负性限制,得到体数据校正值:
表示非负校正后的体数据向量的第j个分量,即经过投影到凸集POCS该步骤后得到的体数据向量的第j个分量,表示经过M次上述加型迭代公式迭代后的体数据向量的第j个分量;
S62:总变差最小化TVM:先初始化总变差最小化的梯度TVM-GRAD下降方向的体数据初值f(TVM-GRAD)=f(POCS)及下降程度dPOCS=‖f(0)-f(POCS)‖;总变差TV最小化迭代按下述公式进行:
其中,Ngrad为总变差最小化迭代的次数,TV(f)表示体数据f的总变差,τ为正常数,实验中取τ=0.00000001,为点(s,t,r)处的总变差梯度下降方向,fs,t,r表示位于点(s,t,r)处的体数据,fs-1,t,r表示位于点(s-1,t,r)处的体数据,fs,t-1,r表示位于点(s,t-1,r)处的体数据,fs,t, r-1表示位于点(s,t,r-1)处的体数据,α为权系数,实验中取α=0.2;令f(0)=f(TVM-GRAD),判断是否达到投影到凸集和总变差最小化迭代两步的迭代次数,是则转下一步S63,否则转S61;
S63:经过预设次数的投影到凸集和总变差最小化迭代以后,进行子区域平均化修正。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于重庆大学,未经重庆大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210065306.6/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:变压器测试系统
- 下一篇:带有气浮导向的气浮加载实验装置