[发明专利]翡翠检定装置及具有该装置的翡翠检定仪

说明书

技术领域

本发明涉及红外光谱定性分析技术领域，尤其是涉及一种翡翠检定装置及具有该装置的翡翠检定仪。

背景技术

翡翠“A货”指的是未经任何人工化学处理的天然翡翠，其玉质、颜色、结构都是天然的。翡翠“B货”是指经过了酸浸漂白，墩蜡处理的翡翠，即经过强酸浸泡处理后又用有机物加以固结的翡翠。这种处理用强酸浸泡翡翠以清除其中的杂色，再以真空注胶填充翡翠中经酸浸侵蚀而出现的空间。根据国标GB T16553-2003《(珠宝玉石鉴定》，翡翠漂白填充处理后在红外光谱2400～2600cm-1和2800～3200cm-1(即3.8～4.2um和3.1～3.6um)有强吸收峰。

目前鉴定方法主要有两种，第一种是依赖行家肉眼判断，观察翡翠样品是否有纤维交织结构、结构是否松散、表面是否呈桔皮状结构或沟渠状结构、抛光面是否见显微裂纹。这种方法完全依赖于经验，而且随着加工工艺的提高越来越难判断。第二种方法是采用傅里叶红外光谱测量翡翠的透射谱，根据吸收峰的位置可以有效提供聚合物结论性的证据，具有快速、无损的特点，能够较准确的鉴定天然翡翠和处理翡翠。缺点是傅里叶红外光谱仪结构复杂、成本高、对工作条件的要求高、不便于携带，通常只有市级以上的宝玉石质量监督检验站才配备。

发明内容

本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。

为此，本发明的一个目的在于提出一种光路简洁稳定且抗震动的翡翠检定装置。

本发明的另一个目的在于提出一种具有上述翡翠检定装置的翡翠检定仪。

根据本发明第一方面实施例的一种翡翠检定装置，包括：基体，所述基体上具有用于放置待检定样品的样品池；红外光源，所述红外光源设在所述基体上以对所述待检定样品进行红外光照射；探测器组件，所述探测器组件设在所述基体上且与所述红外光源相对地设在所述样品池的两侧，所述探测器组件包括红外探测器和滤波片，所述滤波片设在所述红外探测器和所述样品池之间，其中穿过所述待检定样品的红外光由所述滤波片滤波后通过红外探测器进行检测；氟化钙窗片，所述氟化钙窗片设在所述滤波片和所述样品池之间，其中所述红外探测器、所述滤波片、所述氟化钙窗片和所述红外光源的中心在一条轴线上；和用于控制所述红外光源和所述探测器组件的控制测量组件。

根据本发明实施例的翡翠检定装置，通过红外光源发射的红外光穿过样品池内的待检定样品后再穿过氟化钙窗片到达滤波片，经过滤波片后的单色光达到红外探测器的红外感应单元，最后输出电信号进行分析，不仅可快速、准确、无损的对待检定样品进行检定，且光路中没有任何机械运动部件，结构紧凑、抗震能力强，且体积小便于携带，同时成本低。

另外，根据本发明的翡翠检定装置还具有如下附加技术特征：

根据本发明的一些实施例，所述控制测量组件包括：第一PCB板，所述第一PCB板设在所述基体的一侧，其中所述探测器组件设在所述第一PCB板上；和第二PCB板，所述第二PCB板设在所述基体的另一侧，其中所述红外光源设在所述第二PCB板上。由此，通过采用第一PCB板和第二PCB板，大大减少布线和装配的差错，提高了自动化水平和生产劳动率，且使得翡翠检定装置的结构更紧凑。

进一步地，所述翡翠检定装置还包括：安装块，所述安装块设在所述基体的下表面上，且所述第一PCB板安装在所述安装块的一侧而所述第二PCB板安装在所述安装块的另一侧。由此，使得第一PCB板和第二PCB板安装牢固，且翡翠检定装置结构简单。

根据本发明的进一步实施例，所述翡翠检定装置还包括：至少一个隔离柱，所述第一PCB板通过所述至少一个隔离柱与所述安装块相连。从而不仅使得第一PCB板安装简单，且利于第一PCB板上的探测器组件的信号的输出。

可选地，所述第二PCB板与所述安装块螺钉连接。由此，结构简单且安装方便。

在本发明的一些实施例中，所述翡翠检定装置进一步包括：光源适配器，其中所述红外光源通过所述光源适配器连接在所述第二PCB板上。从而使得红外光源固定牢固，且避免了对红外光源的损坏，提高检定精度。

具体地，所述红外光源为高频电调制灰体红外光源，且发射光谱范围为2～16um，最高调制频率为100Hz。进一步地，所述红外光源具有反射镜。