[发明专利]翡翠检定装置及具有该装置的翡翠检定仪在审
申请号: | 201210055250.6 | 申请日: | 2012-03-05 |
公开(公告)号: | CN103293158A | 公开(公告)日: | 2013-09-11 |
发明(设计)人: | 费成振;吴升海;夏先余 | 申请(专利权)人: | 江苏天瑞仪器股份有限公司 |
主分类号: | G01N21/87 | 分类号: | G01N21/87;G01N21/35 |
代理公司: | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人: | 宋合成 |
地址: | 215300 江苏省苏州*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 翡翠 检定 装置 具有 | ||
1.一种翡翠检定装置,其特征在于,包括:
基体,所述基体上具有用于放置待检定样品的样品池;
红外光源,所述红外光源设在所述基体上以对所述待检定样品进行红外光照射;
探测器组件,所述探测器组件设在所述基体上且与所述红外光源相对地设在所述样品池的两侧,所述探测器组件包括红外探测器和滤波片,所述滤波片设在所述红外探测器和所述样品池之间,其中穿过所述待检定样品的红外光由所述滤波片滤波后通过红外探测器进行检测;
氟化钙窗片,所述氟化钙窗片设在所述滤波片和所述样品池之间,其中所述红外探测器、所述滤波片、所述氟化钙窗片和所述红外光源的中心在一条轴线上;和
用于控制所述红外光源和所述探测器组件的控制测量组件。
2.根据权利要求1所述的翡翠检定装置,其特征在于,所述控制测量组件包括:
第一PCB板,所述第一PCB板设在所述基体的一侧,其中所述探测器组件设在所述第一PCB板上;和
第二PCB板,所述第二PCB板设在所述基体的另一侧,其中所述红外光源设在所述第二PCB板上。
3.根据权利要求2所述的翡翠检定装置,其特征在于,进一步包括:
安装块,所述安装块设在所述基体的下表面上,且所述第一PCB板安装在所述安装块的一侧而所述第二PCB板安装在所述安装块的另一侧。
4.根据权利要求3所述的翡翠检定装置,其特征在于,进一步包括:
至少一个隔离柱,所述第一PCB板通过所述至少一个隔离柱与所述安装块相连。
5.根据权利要求3所述的翡翠检定装置,其特征在于,所述第二PCB板与所述安装块螺钉连接。
6.根据权利要求2-5中任一项所述的翡翠检定装置,其特征在于,进一步包括:光源适配器,其中所述红外光源通过所述光源适配器连接在所述第二PCB板上。
7.根据权利要求1-6中任一项所述的翡翠检定装置,其特征在于,所述红外光源为高频电调制灰体红外光源,且发射光谱范围为2~16um,最高调制频率为100Hz。
8.根据权利要求7所述的翡翠检定装置,其特征在于,所述红外光源具有反射镜。
9.根据权利要求1-8中任一项所述的翡翠检定装置,其特征在于,所述滤波片为法布里-珀罗滤波片,所述法布里-珀罗滤波片的中心波长的调谐范围为3~4.3um。
10.根据权利要求9所述的翡翠检定装置,其特征在于,所述红外探测器为热释电红外探测器。
11.根据权利要求1-10中任一项所述的翡翠检定装置,其特征在于,进一步包括:
基座,所述基座被构造成横截面为四分之三圆形的扇形,且所述基座的顶部敞开且内部限定出腔室,其中所述基体封闭所述基座的顶部且所述红外光源、探测器组件、氟化钙窗片、控制测量组件均位于所述腔室内。
12.一种翡翠检定仪,其特征在于,包括:
壳体,所述壳体内部限定出容纳空间;
根据权利要求1-11中任一项所述的翡翠检定装置,其中所述基体可旋转地设在所述容纳空间内;
控制检测模块,所述控制检测模块与所述翡翠检定装置相连,用于检测所述基体的样品池内的样品;
触控显示模块,所述触控显示模块与所述控制检测模块相连用于操控所述控制检测模块并显示检测结果;以及
电源模块,所述电源模块用于向所述翡翠检定装置、所述控制检测模块和触控显示模块提供电源。
13.根据权利要求12所述的翡翠检定仪,其特征在于,进一步包括:
旋转轴,所述基体通过旋转轴可旋转地设在所述容纳空间内,且所述旋转轴被构造成将所述基体旋转预定角度。
14.根据权利要求12所述的翡翠检定仪,其特征在于,所述旋转轴被构造成将所述基体旋转大致90度。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于江苏天瑞仪器股份有限公司,未经江苏天瑞仪器股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210055250.6/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。