[发明专利]改善金属互联工艺中多孔介质薄膜密封性的方法无效
申请号: | 201210048744.1 | 申请日: | 2012-02-28 |
公开(公告)号: | CN102543859A | 公开(公告)日: | 2012-07-04 |
发明(设计)人: | 张景春;顾梅梅;陈建维 | 申请(专利权)人: | 上海华力微电子有限公司 |
主分类号: | H01L21/768 | 分类号: | H01L21/768 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 陆花 |
地址: | 201203 上海市浦*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 改善 金属 工艺 多孔 介质 薄膜 密封性 方法 | ||
1.一种改善金属互联中的多孔介质薄膜密封性的方法,其特征在于包括:
以多层金属互联为例:
在多孔介质薄膜上淀积阻挡薄膜;
在所述阻挡薄膜上淀积介质薄膜;
在所述介质薄膜上淀积硬掩膜以及硬掩膜覆盖层;
执行单大马士革刻蚀工艺和/或双大马士革刻蚀工艺以刻蚀所述介质薄膜、所述硬掩膜以及所述硬掩膜覆盖层,从而暴露多孔介质薄膜的至少一部分孔;以及执行NH3等离子体处理,从而在所述多孔介质薄膜中的暴露的孔中的侧壁表面形成封闭层,然后淀积金属互联层。
2.根据权利要求1所述的改善金属互联中的多孔介质薄膜密封性的方法,其特征在于进一步包括:执行多层金属互联中的Cu阻挡层和/或晶种层的淀积。
3.根据权利要求1或2所述的改善金属互联中的多孔介质薄膜密封性的方法,其特征在于进一步包括:在多孔介质薄膜上淀积阻挡薄膜之前,执行NH3等离子体处理。
4.一种金属互联制造方法,其特征在于采用了根据权利要求1至3之一所述的改善金属互联中的多孔介质薄膜密封性的方法。
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