[发明专利]基于密度可达测度的半监督谱聚类SAR图像分割方法有效

专利信息
申请号: 201210047738.4 申请日: 2012-02-28
公开(公告)号: CN102622753A 公开(公告)日: 2012-08-01
发明(设计)人: 张向荣;焦李成;魏征丽;杨杰;侯彪;刘若辰;李阳阳;白静;马文萍 申请(专利权)人: 西安电子科技大学
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00
代理公司: 陕西电子工业专利中心 61205 代理人: 王品华;朱红星
地址: 710071*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 基于 密度 测度 监督 谱聚类 sar 图像 分割 方法
【权利要求书】:

1.一种基于密度可达测度的半监督谱聚类SAR图像分割方法,包括如下步骤:

(1)输入待分割SAR图像,图像中所有像素点构成数据集X,X={x1,x2,...,xn}∈Rd,xi表示数据集中的任意点,i∈[1,...,n],n为数据个数,d表示数据维数;

(2)求取两点xi与xj之间的密度可达关系,如果两个点xi与xj之间能通过一系列直接密度可达点集相连,则称点xi与xj是密度可达的;

(3)通过数据点之间的密度可达关系,构造出基于密度可达区域半径的相似度矩阵A:

A=A(1,1)A(1,2)···A(1,n)A(2,1)A(2,2)···A(2,n)············A(n,1)A(n,2)···A(n,n)]]>

其中,A(i,j)表示矩阵A中的元素,i=1,...,n,j=1,...,n,n为数据点的个数,

式中R(xi)表示点xi的密度可达区域半径,max{R(x1),R(x2),…,R(xn)}表示所有数据点密度可达区域半径的最大值,s为高斯核函数尺度参数,DDRN(xi)表示点xi的所有直接密度可达近邻点的集合;

(4)人工提取成对约束信息集合must-link与cannot-link,并用这些成对约束信息对相似度矩阵A加以修正,使A(i,j)=1andA(j,i)=1,if(xi,xj)must-linkA(i,j)=0andA(j,i)=0,if(xi,xj)cannot-link,]]>得到修正后的相似度矩阵A1;其中must-link限制两个样本点必须属于同一类;cannot-link限制两个样本点不能属于同一类;

(5)用修正后的相似度矩阵A1构造拉普拉斯矩阵L:L=D-1/2A1D1/2,其中D为对角矩阵,D中的元素记为D(i,i),i=1,...,n,n为数据个数;

(6)对拉普拉斯矩阵L进行特征值分解,并按照特征值的大小将对应特征向量从大到小排列,取前c个最大的特征值所对应的特征向量构成数据集Y,Y={y1,y2,...,yc}∈Rn,c为待分割图像中包含的类别数,n为数据个数;

(7)数据集Y中的数据点与输入待分割图像的像素点是一一对应的,使用K均值聚类方法,对数据集Y进行聚类,得到数据集Y中n个数据点的类别标记,每个像素点的类别标记,输出SAR图像的分割结果图。

2.根据权利要求1所述的基于密度可达测度的半监督谱聚类SAR图像分割方法,其中步骤(2)所述的求取两点xi和xj之间的密度可达关系,按如下步骤进行:

(2a)使用距离测度dist(xi,yj)=||xi,yj||1=Σi=1d|xi-xj|]]>计算数据集X中每个像素点xi的k个近邻点集合N(xi);其中,||xi,xj||1表示两个像素点xi与xj之间的l1范数,d为数据的维数;

(2b)计算像素点xi的近邻点集合N(xi)中的所有点与xi的距离的平均值ε,得到该点的密度可达区域半径R(xi),记为R(xi)=ε;

(2c)将属于密度可达区域半径R(xi)范围内的近邻点,定义为像素点xi的直接密度可达近邻,称这些近邻点与像素点xi是直接密度可达的,将数据点xi的所有直接密度可达近邻点的集合记为DDRN(xi);

(2d)如果两个像素点xi与xj之间可以通过一系列直接密度可达点集相连,则称像素点xi与xj是密度可达的。

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