[发明专利]232U的测定方法有效
申请号: | 201210035832.8 | 申请日: | 2012-02-17 |
公开(公告)号: | CN103257147A | 公开(公告)日: | 2013-08-21 |
发明(设计)人: | 王琛;赵永刚;李力力;朱留超;赵兴红;常志远 | 申请(专利权)人: | 中国原子能科学研究院 |
主分类号: | G01N23/00 | 分类号: | G01N23/00;G01N27/62 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 102413*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | sup 232 测定 方法 | ||
技术领域
本发明属于分析化学技术领域,具体涉及232U的测定方法。
背景技术
反应堆辐照后的铀样品中铀的同位素通常为232U、233U、234U、235U、236U、238U。其中的小组份铀同位素232U、233U、234U、236U及其子体的存在,给核燃料循环和核燃料元件制造带来辐照和污染问题,增大了防护难度,尤其是232U,其半衰期短、衰变子体产生的γ射线能量高、热中子吸收截面大,是元件制造中严格限制的铀同位素。美国ASTM标准规定反应堆辐照后的铀样品中232U的最高限制值为0.005μg/gU。为了准确测量铀样品中的232U,美国试验与材料学会建立了标号为ASTM C761-96的标准实验方法,我国也等效采用ASTM C761-88建立了核行业标准EJ 727-1992,这两种标准都是采用比色法测定电沉积源中铀的质量,使用α能谱法测定电沉积源232U质量。但此方法较为繁琐,确定电沉积源中铀的质量时,需要做工作曲线,并且确定每个沉积源质量时均须进行比色测定。
发明内容
本发明针对以上技术存在的问题,提出了一种232U的测定方法,该法操作简单、测量准确。
本发明采用α能谱和质谱联用测量反应堆辐照后铀样品中的232U的含量。
通过α能谱测量可测得234U、235U、236U、238U的总α计数。由于232U释放出两种α粒子,能量分别为5.28MeV与5.32MeV,与228Th的能量为5.34MeV的α射线相重叠,但可通过228Th的另一能量为5.42MeV的α射线扣除228Th对232U的贡献,得到232U的计数。232U的质量可用扣除后的232U的α计数与其本征比活度计算出,其计算公式如下:
m232=A232/α232=(N5.3-0.3767·N5.42)/(t·α232·Ef) (1)
公式(1)中:
m232、A232、α232分别为样品中232U的质量、232U活度、232U的本征比活度;
t、Ef分别为α能谱仪的测量时间和探测器效率;
N5.3为232U的5.26MeV、5.32MeV及228Th的5.34MeVα峰的总α计数;
N5.42为228Th的5.42MeVα峰的净计数。
通过多接收电感耦合等离子体质谱仪测量铀样品中232U、233U、234U、235U、236U和238U占U元素的原子百分比,由于232U、233U所占原子百分比太小,可忽略不计。以234U为例,其比活度及质量计算公式如下:
A234=m234·α234 (2)
A234=N234·/(t·Ef) (3)
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