[发明专利]232U的测定方法有效

专利信息
申请号: 201210035832.8 申请日: 2012-02-17
公开(公告)号: CN103257147A 公开(公告)日: 2013-08-21
发明(设计)人: 王琛;赵永刚;李力力;朱留超;赵兴红;常志远 申请(专利权)人: 中国原子能科学研究院
主分类号: G01N23/00 分类号: G01N23/00;G01N27/62
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: sup 232 测定 方法
【说明书】:

技术领域

发明属于分析化学技术领域,具体涉及232U的测定方法。

背景技术

反应堆辐照后的铀样品中铀的同位素通常为232U、233U、234U、235U、236U、238U。其中的小组份铀同位素232U、233U、234U、236U及其子体的存在,给核燃料循环和核燃料元件制造带来辐照和污染问题,增大了防护难度,尤其是232U,其半衰期短、衰变子体产生的γ射线能量高、热中子吸收截面大,是元件制造中严格限制的铀同位素。美国ASTM标准规定反应堆辐照后的铀样品中232U的最高限制值为0.005μg/gU。为了准确测量铀样品中的232U,美国试验与材料学会建立了标号为ASTM C761-96的标准实验方法,我国也等效采用ASTM C761-88建立了核行业标准EJ 727-1992,这两种标准都是采用比色法测定电沉积源中铀的质量,使用α能谱法测定电沉积源232U质量。但此方法较为繁琐,确定电沉积源中铀的质量时,需要做工作曲线,并且确定每个沉积源质量时均须进行比色测定。

发明内容

本发明针对以上技术存在的问题,提出了一种232U的测定方法,该法操作简单、测量准确。

本发明采用α能谱和质谱联用测量反应堆辐照后铀样品中的232U的含量。

通过α能谱测量可测得234U、235U、236U、238U的总α计数。由于232U释放出两种α粒子,能量分别为5.28MeV与5.32MeV,与228Th的能量为5.34MeV的α射线相重叠,但可通过228Th的另一能量为5.42MeV的α射线扣除228Th对232U的贡献,得到232U的计数。232U的质量可用扣除后的232U的α计数与其本征比活度计算出,其计算公式如下:

m232=A232232=(N5.3-0.3767·N5.42)/(t·α232·Ef)   (1)

公式(1)中:

m232、A232、α232分别为样品中232U的质量、232U活度、232U的本征比活度;

t、Ef分别为α能谱仪的测量时间和探测器效率;

N5.3232U的5.26MeV、5.32MeV及228Th的5.34MeVα峰的总α计数;

N5.42228Th的5.42MeVα峰的净计数。

通过多接收电感耦合等离子体质谱仪测量铀样品中232U、233U、234U、235U、236U和238U占U元素的原子百分比,由于232U、233U所占原子百分比太小,可忽略不计。以234U为例,其比活度及质量计算公式如下:

A234=m234·α234                                   (2)

A234=N234·/(t·Ef)                                (3)

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