[发明专利]图像数据处理的方法和系统有效

专利信息
申请号: 201210021100.3 申请日: 2006-09-21
公开(公告)号: CN102622746A 公开(公告)日: 2012-08-01
发明(设计)人: W·D·罗斯 申请(专利权)人: 卢米尼克斯股份有限公司
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G01N15/14
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 姬利永
地址: 美国得*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 图像 数据处理 方法 系统
【权利要求书】:

1.一种包括程序指令的非瞬逝性存储介质,所述程序指令可由处理器执行用来:

分析具有与之关联的荧光材料的颗粒的图像,以在所述图像内标识呈现第一预定阈值以上的光学参数值的一个或多个像素;

在多组一个或多个所标识像素内确定分别在所述组内呈现所述光学参数的最大值的位置;

随后对围绕所述位置中至少一个的多个像素计算所述光学参数的强度变化率,以确定所述多个像素表示所述颗粒图像中的单个颗粒还是所述颗粒图像中的颗粒团;以及

基于所计算的强度变化率,接受或拒绝所述多个像素用于进一步评估。

2.如权利要求1所述的存储介质,其特征在于,用于接受或拒绝所述多个像素的程序指令包括:

在所计算的强度变化率大于或等于与所述第一预定阈值不同的第二预定阈值时接受所述多个像素用于进一步评估;以及

在所计算的强度变化率小于所述第二预定阈值时拒绝所述多个像素用于进一步评估。

3.如权利要求1所述的存储介质,其特征在于,用于计算所述强度变化率的所述程序指令包括用于以下步骤的程序指令:

对排列在围绕所述至少一个位置的第一预定半径内的第一组多个像素的所述光学参数值进行求和;

对排列在围绕所述至少一个位置的第二预定半径内的第二组多个像素的所述光学参数值进行求和,其中所述第二预定半径大于所述第一预定半径;以及

确定分别对所述第一和第二组像素计算的求和值的比值。

4.如权利要求3所述的存储介质,其特征在于,所述第一预定半径约等于所述图像内单个颗粒的投影直径,其中所述投影直径基于用于对所述颗粒成像的系统的部件配置。

5.如权利要求3所述的存储介质,其特征在于,所述第二预定半径约比所述图像内单个颗粒的投影直径大1.5倍,其中所述投影直径基于用于对所述颗粒成像的系统的部件配置。

6.如权利要求1所述的存储介质,其特征在于,用于确定所述位置的所述程序指令包括用于在所述多组一个或多个所标识像素中确定分别呈现所述光学参数的最大值的峰值像素的程序指令。

7.如权利要求6所述的存储介质,其特征在于,用于确定所述位置的所述程序指令还包括用于基于对应于所述至少一个组的所述峰值像素内以及包含在围绕所述峰值像素的第二预定半径内邻近所述峰值像素的像素内的所述光学参数值,在所述多组一个或多个所标识像素的至少一个内计算质心位置的程序指令。

8.如权利要求7所述的存储介质,其特征在于,用于确定所述位置的所述程序指令还包括用于在确定所述质心位置的尺寸大于所述图像内像素宽度的约50%时,将所述质心位置指派为所述至少一组内呈现所述光学参数最大值的所述位置的程序指令。

9.如权利要求6所述的存储介质,其特征在于,还包括用于以下步骤的程序指令:

计算所述峰值像素中的两个像素之间的距离;以及

在所计算的距离小于第二预定阈值时,拒绝与所述两个峰值像素之一对应的一组像素用于进一步评估。

10.如权利要求9所述的存储介质,其特征在于,所述用于拒绝一组像素的程序指令包括用于以下步骤的程序指令:

对与所述两个峰值像素对应的每组像素计算光学参数的强度变化率;以及

基于对每组像素计算的强度变化率拒绝所述一组像素。

11.如权利要求3所述的存储介质,其特征在于,还包括用于重复以下步骤:对所述第一和第二组多个像素的光学参数值进行求和,以及对不同预定半径确定求和值的比值。

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