[发明专利]超光谱成像仪短波红外实验室光谱定标校正方法有效

专利信息
申请号: 201210019384.2 申请日: 2012-01-20
公开(公告)号: CN102538966A 公开(公告)日: 2012-07-04
发明(设计)人: 栗琳;巩彩兰;孟鹏;胡勇 申请(专利权)人: 中国科学院上海技术物理研究所
主分类号: G01J3/28 分类号: G01J3/28;G01J3/02
代理公司: 上海新天专利代理有限公司 31213 代理人: 郭英
地址: 200083 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 光谱 成像 短波 红外 实验室 定标 校正 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及实验室光谱定标领域,波段范围为短波红外波段(波长为1000-2500nm),具体是指通过谱线漂移校正模型对超光谱成像仪谱线温漂进行校正的方法。

背景技术

为了定量获得地物图像信息,在发射之前需对遥感仪器进行实验室定标以获取仪器的性能参数,其中实验室定标包括光谱定标和辐射定标。其中光谱定标是获得遥感器各波段的中心波长和光谱响应带宽(一般用半波宽描述);辐射定标是根据光谱定标得到的波段响应特性计算仪器各个探测元的辐射定标系数(包括增益和偏置)。目前实验室光谱定标方法主要采用谱线灯方法、单色仪扫描法和特征峰吸收法。谱线灯方法利用汞灯、钠灯的发射谱线,实现波长的标定,但无法标定光谱带宽;单色仪扫描法是利用单色仪在相应波长范围内以一定的步长扫描,并采集探测器各个波段的响应,利用高斯曲线拟合比较精确地得到响应峰值的波长和半波宽。其实验室装置见图1;特征峰吸收法是利用掺杂稀土元素的反射板位置来测量探测元的中心波长,例如EO-1中的Hyperion高光谱成像仪就分别测量对波长有高反射的spectralon板和掺有稀土元素的spectralon板,根据掺有稀土元素白板的特定吸收谱线位置对仪器进行中心波长和半波宽标定。

单色仪扫描法定标精度高且易于操作,使用较为广泛。本方法的提出也是基于单色仪扫描法,单色仪以波段带宽的1/10为步长采集短波红外波段光谱。然而随着采集时间的增加,遥感仪器内部产热引起光机结构和框架的变化,造成波段中心波长向长波方向偏移,波段序号越大,中心波长的偏移量越大。单色仪采集一次短波红外的全波段数据需要大概23分钟,在这段时间内波长漂移显著,根据实验数据得偏移量在0.5个波段带宽以上。超光谱成像仪的光谱分辨率高,达纳米数量级,通道内中心波长的微小偏移会影响辐射定标系数的精度,进一步影响遥感图像应用的精度。

发明内容

基于上述已有技术存在的问题,本发明的目的是提出一种超光谱成像仪短波红外实验室光谱定标校正方法,以修正由于长时间采集产生的波长漂移问题。

该校正方法首先选取波长校正波段a、b、c等,分别采集多组并通过数值计算和线性回归方法获得校正波段通道变化量与采集时间偏移量的变化规律,根据规律建立谱线漂移校正模型,最后根据谱线漂移校正模型对短波红外全波段光谱定标结果进行谱线漂移校正。

该方法是建立在单色仪扫描法实验室光谱定标(图1)装置基础上的:标准光源按从左到右顺序先经过单色仪分光,分光后的单色光经过目标模拟器准直为平行光后入射到光谱仪的光学系统中。通过软件设备控制单色仪的分光步长和光谱仪的水平和俯仰角度,确保单色仪狭缝同光学系统狭缝对准。在实验每次测量之前要严格控制实验环境温度,控制在常温20℃,同时保持光谱仪制冷机、光学系统、电箱及框架等温度在每次测量时均一致(偏差在±0.5℃)。

其具体步骤是:

1)选择波长校正波段并采集。选取整个波段范围中信噪比较高的波段作为校正波段,校正波段的采集波长范围为波段中心波长±半波宽,以确保能完整采集校正波段。具体采集方法如下:

a)确定光谱仪采集的积分时间和指向镜角度。

b)调整狭缝光线的视场位置,待环境温度稳定并达到实验室要求后光谱仪开机。

c)采集校正波段,重复连续采集多组,保证校正波段的重复采集总时间不少于全波段谱线的采集时间。

d)待校正波段多组采集完毕后,关机冷却直至环境温度再次稳定。

重复步骤a)-d),得到其他校正波段的采集数据。

2)分析每个校正波段的通道偏移量ΔCHai相对时间偏移量ΔTai的变化规律,其中通道偏移量ΔCHai为波段内中心波长变化量Δλai与半波宽ΔFWHMai的比值,i代表参考点采集组号,a代表校正波段序号。

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