[发明专利]超光谱成像仪短波红外实验室光谱定标校正方法有效
申请号: | 201210019384.2 | 申请日: | 2012-01-20 |
公开(公告)号: | CN102538966A | 公开(公告)日: | 2012-07-04 |
发明(设计)人: | 栗琳;巩彩兰;孟鹏;胡勇 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海技术物理研究所 |
主分类号: | G01J3/28 | 分类号: | G01J3/28;G01J3/02 |
代理公司: | 上海新天专利代理有限公司 31213 | 代理人: | 郭英 |
地址: | 200083 *** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 光谱 成像 短波 红外 实验室 定标 校正 方法 | ||
1.一种超光谱成像仪短波红外实验室光谱定标谱线漂移校正方法,其特征在于已包括的步骤如下:
(1)选择波长校正波段并采集。选取整个波段范围中信噪比较高的波段作为校正波段,校正波段的采集波长范围为波段中心波长±半波宽,以确保能完整采集校正波段;具体采集方法如下:
a)确定光谱仪采集的积分时间和指向镜角度;
b)调整狭缝光线的视场位置,待环境温度稳定并达到实验室要求后光谱仪开机;
c)采集校正波段,重复连续采集多组,保证校正波段的重复采集总时间不少于全波段谱线的采集时间;
d)待校正波段多组采集完毕后,关机冷却直至环境温度再次稳定;
重复步骤a)-d),得到其他校正波段的采集数据;
2)分析每个校正波段的通道偏移量ΔCHai相对时间偏移量ΔTai的变化规律,其中通道偏移量ΔCHai为波段内中心波长变化量Δλai与半波宽ΔFWHMai的比值,i代表参考点采集组号,a代表校正波段序号;
3)计算校正波段的通道偏移量均值ΔCH同时间偏移量ΔT的变化规律,通过对实验数据进行线性回归得到谱线漂移校正模型的表达式:
ΔCH=f(ΔT) (2)
4)控制实验环境及成像光谱仪各控温点温度同采集校正波段时一致,采集短波红外全波段的光谱数据,计算全视场全波段的中心波长λmn和半波宽,其中m代表波序号,n代表视场探测元序号;
5)利用步骤3)得到的谱线漂移校正模型来校正色散方向全波段的谱线漂移,计算单色波长采集时间,其中采集每波长用时为
T代表总采集时间(秒),L2为采集终止波长(nm),L1为采集开始波长(nm);根据步骤4)得到原始的存在温漂影响的不同波段不同探测元中心波长结果,根据公式(1)-(3)得到不同波段不同探测元中心波长的波长偏移量,实现对原始光谱定标结果修正。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院上海技术物理研究所,未经中国科学院上海技术物理研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210019384.2/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。