[发明专利]集成显示器的光学加速计

权利要求书

1.一种加速计，包括：

光源，其配置成发射光；

基板；

光导，其附连到所述基板的第一侧并配置成将从所述光源发射的光重新定向穿过所述基板；

光检测器，其配置成确定入射在所述光检测器上的所述光的特性；以及

检验质量块，其通过一个或多个弹簧附连到所述基板的第二侧，其中，所述第二侧与所述第一侧相对，并且其中，所述检验质量块的运动配置成干涉从所述光源发射的光，并由此改变由光检测器所检测的光的特性。

2.如权利要求1所述的加速计，其特征在于，进一步包括处理器，其配置成基于所确定的特性来确定加速度。

3.如权利要求1所述的加速计，其特征在于，进一步包括，后侧光导，其与所述光导相对地沉积在所述基板上并配置成将光重新定向回穿过所述基板。

4.如权利要求1所述的加速计，其特征在于，所述光的特性包括所述光的强度。

5.如权利要求1所述的加速计，其特征在于，所述光的特性包括偏振或波长中的至少一者。

6.如权利要求1所述的加速计，其特征在于，所述基板是至少部分透明的。

7.如权利要求1所述的加速计，其特征在于，所述光被重新定向穿过所述基板的透明通孔。

8.如权利要求1所述的加速计，其特征在于，所述检验质量块是至少部分不透明或者部分反射式的。

9.如权利要求1所述的加速计，其特征在于，所述一个或多个弹簧包括具有不同弹簧常数的两个弹簧。

10.如权利要求1所述的加速计，其特征在于，所述基板包括玻璃。

11.一种确定加速度的方法，所述方法包括：

将光定向穿过基板朝向检验质量块；以及

基于所述光的特性来确定加速度。

12.如权利要求11所述的方法，其特征在于，进一步包括，将所述光重新定向回穿过所述透明基板。

13.如权利要求11所述的方法，其特征在于，所述光的特性包括所述光的强度。

14.如权利要求11所述的方法，其特征在于，所述检验质量块的运动改变所述光的特性。

15.如权利要求11所述的方法，其特征在于，进一步包括，生成所述光。

16.如权利要求11所述的方法，其特征在于，进一步包括，确定所述光的特性。

17.一种加速计，包括：

用于将光定向穿过基板朝向检验质量块的装置；以及

用于基于所述光的特性来确定加速度的装置。

18.如权利要求17所述的方法，其特征在于，进一步包括，用于生成光的装置和用于确定所述光的特性的装置。

19.如权利要求18所述的加速计，其特征在于，所述用于生成光的装置包括光源，其中所述用于将光定向的装置包括光导，其中所述用于确定所述特性的装置包括光检测器，并且其中所述用于确定加速度的装置包括处理器。

20.一种制造显示设备的方法，所述方法包括：

提供基板；

将光源和光检测器放置于所述基板的近端；

将光导沉积或蚀刻到所述基板的第一侧上，其中所述光导配置成将来自所述光源的光重新定向穿过所述基板；以及

形成通过一个或多个弹簧附连到所述基板的第二侧的检验质量块，其中，所述第二侧与所述第一侧相对，并且其中，所述检验质量块的运动改变从所述光源到达所述光检测器的光的特性。

21.如权利要求20所述的方法，其特征在于，进一步包括，配置所述处理器以基于到达所述光检测器的光的所述特性来确定加速度。

22.如权利要求20所述的方法，其特征在于，形成附连到所述基板的第二侧的检验质量块包括：形成一个或多个弹簧。

23.如权利要求20所述的方法，其特征在于，形成附连到所述基板的第二侧的检验质量块包括：蚀刻、沉积、或光刻。

24.如权利要求20所述的方法，其特征在于，形成附连到所述基板的第二侧的检验质量块包括：将预先形成的检验质量块附连到所述基板的第二侧。