[实用新型]手动芯片测试座有效
| 申请号： | 201120497349.2 | 申请日： | 2011-12-02 |
| 公开（公告）号： | CN202471762U | 公开（公告）日： | 2012-10-03 |
| 发明（设计）人： | 金英杰 | 申请（专利权）人： | 金英杰 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518000 广东省深*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 手动 芯片 测试 | ||
【权利要求书】：
1.一种手动芯片测试座，其特征在于：包括一底座，所述的底座底部设有电路板，底座上设有一空腔，空腔底部设有与电路板相连的下针模，下针模上设有针孔用于安装弹簧探针，下针模上方设有上针模，上针模上设有针孔用于安装弹簧探针；上针模和下针模之间装有双头弹簧探针；所述的底座连接一可下压的上盖。
2.如权利要求1所述的手动芯片测试座，其特征在于：所述的上针模上设有弹性结构的浮板，浮板上设有探针孔便于探针头穿过该孔与芯片管脚接触。
3.如权利要求2所述的手动芯片测试座，其特征在于：所述的弹性结构包括一固定于下针模上的下浮动铜块和一固定于上针模上的上浮动铜块，所述的下浮动铜块和上浮动铜块之间通过一弹簧连接。
4.如权利要求3所述的手动芯片测试座，其特征在于：所述的上盖内表面设有一凹槽，凹槽中设有一压块。
5.如权利要求4所述的手动芯片测试座，其特征在于：所述的上盖和底座的一侧通过一铰链连接，与铰链相对的一侧设有用于卡合固定的挂钩。
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