[实用新型]一种高精度微小颗粒金属检测DDS电路

权利要求书

1.一种高精度微小颗粒金属检测DDS电路，包括电源、偏置放大电路、变压器、检测线圈和反馈电路，其特征在于：采用变压器耦合反馈振荡电路产生正弦波，将检测线圈中主边线圈与一电容串联所构成的LC振荡回路作为选频网络，并将DAC加在反馈回路中，调节正弦波振幅的反馈强度。

2.根据权利要求1所述的一种高精度微小颗粒金属检测DDS电路，其特征在于：所述的偏置放大电路是由偏置电路与放大电路连接构成。

3.根据权利要求2所述的一种高精度微小颗粒金属检测DDS电路，其特征在于：所述的偏置电路由电阻R1、R2和R3组成。

4.根据权利要求2所述的一种高精度微小颗粒金属检测DDS电路，其特征在于：所述的放大电路由三极管及外围电路组成。

5.根据权利要求1所述的一种高精度微小颗粒金属检测DDS电路，其特征在于：所述的检测线圈包括主边线圈与副边线圈，副边线圈绕在主边线圈的外表面。

6.根据权利要求5所述的一种高精度微小颗粒金属检测DDS电路，其特征在于：所述的主边线圈不与电路连接，副边线圈与电路连接。

7.根据权利要求1所述的一种高精度微小颗粒金属检测DDS电路，其特征在于：所述的变压器初级绕组的一端与偏置放大电路的放大端连接，变压器初级绕组的另一端与正电源连接。

8.根据权利要求1 或者5所述的一种高精度微小颗粒金属检测DDS电路，其特征在于：所述的变压器次级绕组的一端与检测线圈中副边线圈的一端连接后接地，变压器次级绕组的另一端与检测线圈中副边线圈的另一端连接后接入反馈电路，连接的这点即是金属检测信号的输出端。

9.根据权利要求1所述的一种高精度微小颗粒金属检测DDS电路，其特征在于：所述反馈电路是由单片机控制的DAC数字芯片输出端与两级相串联的运算放大器及外围电路连接后再与偏置放大电路中三极管的发射级相连接。