[实用新型]一种工件外观缺陷检测装置有效

专利信息
申请号: 201120333289.0 申请日: 2011-09-06
公开(公告)号: CN202182866U 公开(公告)日: 2012-04-04
发明(设计)人: 何金洲;周寿林 申请(专利权)人: 成都银河磁体股份有限公司
主分类号: G01N21/89 分类号: G01N21/89
代理公司: 四川力久律师事务所 51221 代理人: 王芸;熊晓果
地址: 611731 四*** 国省代码: 四川;51
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 工件 外观 缺陷 检测 装置
【说明书】:

技术领域

本实用新型涉及一种工件外观缺陷检测装置,尤其是涉及一种对环形工件外观缺陷检测装置。

背景技术

对于环形工件所有表面的外观缺陷检测一般采用人工方法,比如,人工肉眼检查,或者采用放大镜或显微镜检查,这种检查方法效率较低,不能满足批量检查的需求。中国实用新型专利ZL200520048185.X,发明创造名称为“一种粘结稀土磁体外观缺陷图像自动检测仪”,其技术方案是,依工作流程一次包括送料机构、第一检测机构、换位机构、第二检测机构和输送机构;所述第一检测机构包括第一位移装置、第一影像系统和第一检测平台;所述第二检测机构包括第二位移装置、第二影像系统和第二检测平台;所述输送机构为输送带;所述第一、第二影像系统分别包括辅助光源、成像光学镜组和高速CCD摄像头,所述摄像头与带有图像采集卡的计算机连接,所述影像系统分别设置在检测平台的上方。该装置虽然可以实现自动检测,但是由于存在换位机构即翻转机构,使得检测工序非常复杂,检测效率低。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供了一种取消工件翻转机构仍能实现对工件的各个表面进行检测,而且工序简单、高效、自动化检测的工件外观缺陷检测装置。

本实用新型的技术方案是:一种工件外观缺陷检测装置,包括检测平台,以及影像系统,所述影像系统包括辅助光源、成像光学镜组和摄像头,所述摄像头与带有图像采集系统的计算机连接,所述检测平台包括透明水平旋转工作台;所述影像系统包括上影像系统和下影像系统,其中,上影像系统位于检测平台的斜上方,下影像系统位于透明水平旋转工作台的下方。

所述透明水平旋转工作台通过电机同步带动。

所述上影像系统包括至少两个影像系统。便于对工件进行不同方位的影像采集。

所述透明水平旋转工作台上装有定心夹具。所述定心夹具用于夹持待测工件。

所述定心夹具包括圆形基座,所述基座的下端设有圆形安装孔,所述基座的上端设有至少3个定位齿,所述每个定位齿由基座边缘向中心延伸,基座上所有定位齿的齿尖同在一个圆周上,所述定位齿的齿尖形成的定心圆的直径与待夹工件的外径相适配,所述定心圆与所述圆形安装孔同心。

所述定位齿的上表面为斜面,即定位齿的齿根到齿尖厚度逐渐变薄。该结构特征可以在采集工件影像时,减小定位齿对工件高度方向的遮挡,同时也便于工件滑入定心孔内。

所述定位齿的齿根到齿尖宽度逐渐变窄。该结构特征可以在采集工件影像时,减小定位齿对工件圆周方向的遮挡。

所述定位齿的下端面齐平。该结构特征是便于使用该定位夹具检测工件的外观。

作为优选的一种,所述定位齿齿尖的上端面和/或下端面在靠近工件外圆周处倒角。不仅可以减小夹具对工件下端面外棱角的遮挡,而且减少与工件的接触面,避免刮伤工件外表面。

所述圆形基座上每相邻定位齿之间设有便于影像采集的缺口。该结构特征可以使得采集工件影像时定位齿不会挡住工件。

作为优选的一种,所述定位齿围绕基座中心均匀分布。该均布结构可以使得制作更加简单。所述基座上均匀分布有4个定位齿,便于对工件快速定心。

所述计算机控制影像采集系统的工作和透明水平旋转工作台的动作。

所述定位齿的齿尖形成的圆的直径小于所述圆形安装孔的直径。该结构特征是便于工件放于定心夹具后的进一步进行表面检测。

本实用新型所述陷检测装置的检测方法,包括如下步骤:

A、将待测工件放入定心夹具中所述定位齿的齿尖形成的定心圆中的透明水平旋转工作台上;

B、计算机发出指令,所述透明水平旋转工作台旋转,待测工件随着透明水平旋转工作台旋转;

C、计算机发出指令,所述上影像系统拍摄待测工件的上端面、内圆表面和外圆表面,获得工件上端面、内圆表面和外圆表面拍摄区域的图像;所述下影像系统拍摄待测工件的下端面,获得工件下端面拍摄区域的图像;

D、所述图像通过计算机中图像采集系统处理并获得处理结果,从而完成工件所有表面的外观缺陷检测。

本实用新型与现有技术相比具有如下技术效果:本实用新型所述的检测装置结构简单、便于操作、检测可靠,适合于大批量生产工件的检测,由于检测装置巧妙的运用了透明旋转工作台,无需再将工件翻转即可实现工件下端面的检测,提高了检测效率。本实用新型所述检测装置的检测方法非常简单,将工件放置在检测台,只需给计算机一个指令,无需将工件翻转,即可实现对工件的所有表面的缺陷检测,而且检测效率高。

附图说明

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于成都银河磁体股份有限公司,未经成都银河磁体股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201120333289.0/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top