[发明专利]具有缩短硬盘耐用性测试时间的电子装置及方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种具有缩短硬盘耐用性测试时间的电子装置及方法。

背景技术

现有技术下，硬盘耐用性的测试是指验证硬盘反复擦写的能力，即P/E cycle的次数。但是硬盘耐用性的测试时间一般比较长，比如，容量为100G的硬盘，其耐用性的测试时间一般为一年之久，对于企业来讲，即使不考虑测试的费用，但是测试时间也是耗不起的。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种具有缩短硬盘耐用性测试时间的电子装置及方法，其可以通过逻辑地址改变需测试的硬盘的实际所需容量来缩短硬盘耐用性的测试时间，以此解决上述的问题。

本发明提供一种具有缩短硬盘耐用性测试时间的电子装置，该电子装置包括有一接口、一存储单元、一输入单元及一处理单元，该接口用于供硬盘插入至电子装置，该存储单元中存储有一配置表，该配置表中记录了不同容量的硬盘对应的多个逻辑地址选项，该多个逻辑地址选项包括一默认的逻辑地址选项，该处理单元包括有：一读取模块，用于读取插入电子装置接口的硬盘的容量；一选项获取模块，用于根据读取模块所读取硬盘的容量及存储单元中的配置表确定该硬盘容量默认的逻辑地址选项；一容量读取模块，用于根据选择模块确定的默认逻辑地址选项读取该逻辑地址对应的该硬盘实际需要测试的容量；及一测试模块，用于测试该硬盘实际需要测试的容量的耐用性所耗费的测试时间。

本发明还提供一种电子装置缩短硬盘耐用性测试时间的方法，该电子装置包括有一接口、一存储单元、一输入单元，该接口用于供硬盘插入至电子装置，该存储单元中存储有一配置表，该配置表中记录了不同容量的硬盘对应的多个逻辑地址选项，该多个逻辑地址选项包括一默认的逻辑地址选项，该方法包括以下步骤：读取插入电子装置接口的硬盘的容量；根据所读取硬盘的容量及存储单元中的配置表确定该硬盘容量的默认逻辑地址选项；根据确定的默认逻辑地址选项读取该逻辑地址对应的该硬盘实际需要测试的容量；及测试该硬盘实际需要测试的容量的耐用性所耗费的测试时间。

本发明的具有缩短硬盘耐用性测试时间的电子装置及方法，通过改变逻辑地址来改变测试时所读取的硬盘的实际测试容量，从而当实际测试的硬盘的容量减少了，那么对应的测试时间也就缩短了，为用户节省了一定的测试时间。

附图说明

图1为一种具有缩短硬盘耐用性测试时间的电子装置的硬件结构图。

图2为一种缩短硬盘耐用性测试时间的方法流程图。

主要元件符号说明