[发明专利]一种利用源表测量的方法及系统

说明书

技术领域

本发明涉及测量技术，尤其涉及一种利用源表(SourceMeter)测量的方法及系统。

背景技术

SourceMeter是一种在电学实验中经常用到的仪器，其基本功能就是输出电压测量电流或者输出电流测量电压，被广泛地应用在测量集成电路(Integrated Circuit，IC)的电流电压(IV)特性曲线、测量IC的静态电流或者IC的输出管脚的带负载能力等测量精度要求较高的场合。

射频识别(Radio Frequency Identification，RFID)设备，如有源电子标签，使用不可更换电池作为永久电源，如此就要求产品能够具有较长的使用寿命，通常要求5年以上，这样的产品对于功耗的控制要求很高。在测试此类产品性能时，常常会测试工作电流、休眠电流等指标，现有的测试方法是使用SourceMeter或在电路串接入万用表进行测量。虽然SourceMeter较万用表测试精度高，但测量时也是由测试人员进行手动采集数据，在时间上的准确性来说差强人意，并且需要测试人员一直在仪器旁边手动记录数据。

发明内容

有鉴于此，本发明的主要目的在于提供一种利用SourceMeter测量的方法及系统，能够通过自动化测量满足精确的测量需求。

为达到上述目的，本发明的技术方案是这样实现的：

一种利用源表(SourceMeter)测量的方法，所述方法包括：

SourceMeter通过转接卡与计算机连接，在所述计算机的控制下对被测设备进行测量；

所述SourceMeter将测量得到的测量数据输出给所述计算机。

进一步地，所述方法还包括：

计算机安装有所述转接卡的转接卡驱动。

其中，所述SourceMeter通过转接卡与计算机连接为：

所述SourceMeter通过GPIB连接线与USB-GPIB转接卡连接；

所述USB-GPIB转接卡通过USB连线与所述计算机连接。

其中，所述SourceMeter在所述计算机的控制下对所述被测设备进行测量为：

所述SourceMeter根据预先存储于所述计算机的控制程序对所述被测设备进行测量。

其中，所述SourceMeter根据预先存储于所述计算机的控制程序对所述被测设备进行测量为：

SourceMeter给被测设备输入所述控制程序设置的电压，并在所述控制程序设置的控制时间点测量所述被测设备输出的电流；

相应的，所述将测量得到的测量数据输出给所述计算机为：将测量得到的电流值输出给所述计算机。

其中，所述SourceMeter根据预先存储于所述计算机的控制程序对所述被测设备进行测量为：

SourceMeter给被测设备输入所述控制程序设置的电流，并在所述控制程序设置的控制时间点测量所述被测设备输出的电压；

相应的，所述将测量得到的测量数据输出给所述计算机为：将测量得到的电压值输出给所述计算机。

进一步地，所述方法还包括：

所述计算机将接收到的测量数据采集到工作表格并保存。

一种利用SourceMeter测量的系统，包括被测设备，所述系统还包括：SourceMeter、计算机以及转接卡；其中，

所述SourceMeter，用于通过转接卡与所述计算机连接，在所述计算机的控制下对被测设备进行测量；并将测量得到的测量数据输出给所述计算机。

其中，所述计算机，用于安装所述转接卡的转接卡驱动。

其中，所述SourceMeter，具体用于根据预先存储于所述计算机的控制程序对所述被测设备进行测量。

其中，所述SourceMeter，具体用于输出所述控制程序设置的电压给被测设备，并在所述控制程序设置的控制时间点测量所述被测设备输出的电流；并将测量得到的电流值输出给所述计算机。

其中，所述SourceMeter，具体用于输出所述控制程序设置的电流给被测设备，并在所述控制程序设置的控制时间点测量所述被测设备输出的电压；并将测量得到的电压值输出给所述计算机。

其中，所述计算机，还用于将接收到的测量数据采集到工作表格并保存。