[发明专利]互连结构的制造方法有效

专利信息
申请号: 201110407271.5 申请日: 2011-12-08
公开(公告)号: CN103165518A 公开(公告)日: 2013-06-19
发明(设计)人: 周鸣 申请(专利权)人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
主分类号: H01L21/768 分类号: H01L21/768;H01L23/522
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 骆苏华
地址: 201203 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 互连 结构 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种互连结构的制造方法,其特征在于,包括:

提供衬底,在所述衬底上形成低k介质层;

在所述低k介质层中形成多个沿水平方向间隔排列的金属层;

去除部分低k介质层,形成由所述金属层围成的开口;

通过高深宽比工艺向所述开口中填充介质材料,形成遮挡层,所述遮挡层内部包含竖直方向的孔洞;

平坦化所述遮挡层以及位于遮挡层内部的金属层,至暴露出金属层和孔洞;

对所述遮挡层进行湿法清洗,至所述孔洞底部暴露出低k介质层;

去除位于所述遮挡层下的低k介质层;

向所述孔洞中填充介质材料,封闭孔洞,形成空气隙。

2.如权利要求1所述的互连结构的制造方法,其特征在于,所述提供衬底,

在所述衬底上形成低k介质层的步骤包括:在衬底上形成低k介质层之前,在衬底上形成金属阻挡层。

3.如权利要求2所述的互连结构的制造方法,其特征在于,所述在所述低k介质层中形成多个沿水平方向间隔排列的金属层的步骤包括:

在所述低k介质层上形成硬掩模层;

在所述硬掩模层上形成抗反射层;

在抗反射层上形成光刻胶层;

图形化所述光刻胶层,形成光刻胶图形;

以所述光刻胶图形为掩模图形化所述硬掩模层,形成硬掩模图形;

以所述硬掩模图形为掩模图形化所述低k介质层和金属阻挡层,形成沿水平方向间隔排列的凹槽;

去除所述光刻胶图形和所述抗反射层图形;

向所述凹槽中填充金属材料,以形成金属层。

4.如权利要求3所述的互连结构的制造方法,其特征在于,在向所述凹槽中填充金属材料的步骤之后,还包括:通过化学机械研磨工艺去除多余的金属材料,使金属层和低k介质层的表面齐平。

5.如权利要求2所述的互连结构的制造方法,其特征在于,所述金属层的材料为铜。

6.如权利要求5所述的互连结构的制造方法,其特征在于,所述金属阻挡层的材料为氮化硅。

7.如权利要求2所述的互连结构的制造方法,其特征在于,向所述孔洞中填充的介质材料与所述金属阻挡层材料相同。

8.如权利要求1所述的互连结构的制造方法,其特征在于,所述低k介质层材料为氮化硼。

9.如权利要求8所述的互连结构的制造方法,其特征在于,通过氯气或氢气等离子体去除所述部分低k介质层和位于所述阻挡层下的低k介质层。

10.如权利要求1所述的互连结构的制造方法,其特征在于,所述遮挡层的材质为氧化硅,形成所述氧化硅的反应物为TEOS和O3

11.如权利要求1所述的互连结构的制造方法,其特征在于,通过CMP工艺平坦化所述遮挡层以及位于遮挡层内部的金属层。

12.如权利要求1所述的互连结构的制造方法,其特征在于,通过氢氟酸溶液对所述孔洞进行湿法清洗。

13.如权利要求12所述的互连结构的制造方法,其特征在于,所述氢氟酸溶液中水和氢氟酸的体积比在300∶1~1000∶1范围内。

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