[发明专利]互连结构的制造方法有效
申请号: | 201110407271.5 | 申请日: | 2011-12-08 |
公开(公告)号: | CN103165518A | 公开(公告)日: | 2013-06-19 |
发明(设计)人: | 周鸣 | 申请(专利权)人: | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 |
主分类号: | H01L21/768 | 分类号: | H01L21/768;H01L23/522 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 骆苏华 |
地址: | 201203 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 互连 结构 制造 方法 | ||
1.一种互连结构的制造方法,其特征在于,包括:
提供衬底,在所述衬底上形成低k介质层;
在所述低k介质层中形成多个沿水平方向间隔排列的金属层;
去除部分低k介质层,形成由所述金属层围成的开口;
通过高深宽比工艺向所述开口中填充介质材料,形成遮挡层,所述遮挡层内部包含竖直方向的孔洞;
平坦化所述遮挡层以及位于遮挡层内部的金属层,至暴露出金属层和孔洞;
对所述遮挡层进行湿法清洗,至所述孔洞底部暴露出低k介质层;
去除位于所述遮挡层下的低k介质层;
向所述孔洞中填充介质材料,封闭孔洞,形成空气隙。
2.如权利要求1所述的互连结构的制造方法,其特征在于,所述提供衬底,
在所述衬底上形成低k介质层的步骤包括:在衬底上形成低k介质层之前,在衬底上形成金属阻挡层。
3.如权利要求2所述的互连结构的制造方法,其特征在于,所述在所述低k介质层中形成多个沿水平方向间隔排列的金属层的步骤包括:
在所述低k介质层上形成硬掩模层;
在所述硬掩模层上形成抗反射层;
在抗反射层上形成光刻胶层;
图形化所述光刻胶层,形成光刻胶图形;
以所述光刻胶图形为掩模图形化所述硬掩模层,形成硬掩模图形;
以所述硬掩模图形为掩模图形化所述低k介质层和金属阻挡层,形成沿水平方向间隔排列的凹槽;
去除所述光刻胶图形和所述抗反射层图形;
向所述凹槽中填充金属材料,以形成金属层。
4.如权利要求3所述的互连结构的制造方法,其特征在于,在向所述凹槽中填充金属材料的步骤之后,还包括:通过化学机械研磨工艺去除多余的金属材料,使金属层和低k介质层的表面齐平。
5.如权利要求2所述的互连结构的制造方法,其特征在于,所述金属层的材料为铜。
6.如权利要求5所述的互连结构的制造方法,其特征在于,所述金属阻挡层的材料为氮化硅。
7.如权利要求2所述的互连结构的制造方法,其特征在于,向所述孔洞中填充的介质材料与所述金属阻挡层材料相同。
8.如权利要求1所述的互连结构的制造方法,其特征在于,所述低k介质层材料为氮化硼。
9.如权利要求8所述的互连结构的制造方法,其特征在于,通过氯气或氢气等离子体去除所述部分低k介质层和位于所述阻挡层下的低k介质层。
10.如权利要求1所述的互连结构的制造方法,其特征在于,所述遮挡层的材质为氧化硅,形成所述氧化硅的反应物为TEOS和O3。
11.如权利要求1所述的互连结构的制造方法,其特征在于,通过CMP工艺平坦化所述遮挡层以及位于遮挡层内部的金属层。
12.如权利要求1所述的互连结构的制造方法,其特征在于,通过氢氟酸溶液对所述孔洞进行湿法清洗。
13.如权利要求12所述的互连结构的制造方法,其特征在于,所述氢氟酸溶液中水和氢氟酸的体积比在300∶1~1000∶1范围内。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造