[发明专利]一种自动光学检测方法和光学自动检测设备

说明书

技术领域

本发明涉及一种自动光学检测方法，尤其是一种应用于薄膜晶体管液晶显示器(Thin Film Transistor Liquid Crystal Display，TFT-LCD)的自动光学检测方法和光学自动检测设备。

背景技术

目前，TFT-LCD行业的自动光学检查(Automatic Optical Inspection，AOI)系统均采用图形对比算法进行检测，即通过高清晰度的摄像技术、图像的模数转换技术、数据图像处理分析技术、计算机自动化控制技术以及检测结果统计对图像进行分析。然而该系统需要使用价格昂贵的AOI设备，成本较高；同时由于采用图像对比技术，使得图像的数模转换产生的信息量更大，对图形处理产生较大负面影响。

发明内容

鉴于上述状况，有必要提供一种简单且成本较低的自动光学检测方法和光学自动检测设备。

一种自动光学检测方法，该自动光学检测方法包括以下步骤：

A：色光投射步骤，采用具有三原色光的灯光投射在待检的物件上，光线经过空间叠加形成具有不同色彩的图像；获取所述图像的不同区域所对应的灰阶信息，根据灰阶信息生成所述物件的自动光学检查标准图像；

B：将所述自动光学检查标准图像跟预存的基准图像进行对比检测。

优选的，所述每一种色光均具有256个灰阶等级。

优选的，所述步骤A中，采用反射光法获取所述图像不同区域所对应的灰阶信息。

优选的，所述步骤A中，采用透射光法获取所述图像不同区域所对应的灰阶信息。

一种液晶基板的自动光学检测方法，该自动光学检测方法包括以下步骤：

A：色光投射步骤，采用具有三原色光的灯光投射在待检的液晶基板上，光线经过空间叠加形成具有不同色彩的图像；获取所述图像的不同区域所对应的灰阶信息，根据灰阶信息生成所述液晶基板的自动光学检查标准图像；

B：将所述自动光学检查标准图像跟预存的基准图像进行对比检测。

优选的，所述每一种色光均具有256个灰阶等级。

优选的，所述步骤A中，采用反射光法获取所述图像不同区域所对应的灰阶信息。

优选的，所述步骤A中，采用透射光法获取所述图像不同区域所对应的灰阶信息。

优选的，所述液晶基板包括阵列基板和彩色滤光板。

优选的，所述彩色滤光板侧的不同区域包括黑色矩阵、间隙粒子和平坦层对应的区域。

一种光学自动检测设备，包括获取待检对象图像的灰阶信息的摄影装置，以及与所述摄影装置信号连接，用于接收所述灰阶信息生成自动光学检测标准图像的运算模块。

优选的，所述光学自动检测设备还包括三原色投射装置。

上述自动光学检测方法通过三原色光灯光均匀的投射在待检物件上，通过空间加法原理，待检对象的不同区域形成不同颜色的图像，然后获取所述图像的灰阶信息，生成自动光学检查标准图像。在相同区域内出现缺陷处，该处的灰阶信息就会产生异常，因此只需要将自动光学检查标准图像跟预先存储的基准图案比较，找出灰阶异常的图像区域就能找出缺陷以及该缺陷对应的位置。本发明由于只需要处理图像的灰阶信息，降低了图像处理单元及统计分析单元的数据量及处理难度，有利于数据采集可靠性、精度、重复性及速度的提高，本发明降低了检测设备的要求，也有利于降低检测设备的投入成本。

附图说明

图1是本发明自动光学检测方法的第一较佳实施例的反射光法形成的图像示意图；

图2是本发明自动光学检测方法的第一较佳实施例的透射光法形成的图像示意图；

图3是本发明的自动光学检测方法的三原色空间叠加成像示意图；

图4是图3所示的自动光学检测方法的三原色光坐标示意图。

具体实施方式

下面结合附图和较佳的实施例对本发明作进一步说明。

本发明的一种光学自动检测设备，包括获取待检对象图像的灰阶信息的摄影装置，以及接收所述灰阶信息生成自动光学检测标准图像的运算模块。光学自动检测设备的自动光学检测方法可应用于液晶基板、表面贴装技术(Surface Mounted Technology，SMT)等产品的检测，在本实施例中，以应用于的液晶基板中为例加以说明。