[发明专利]一种自动光学检测方法和光学自动检测设备有效
| 申请号： | 201110396157.7 | 申请日： | 2011-12-02 |
| 公开（公告）号： | CN102520537A | 公开（公告）日： | 2012-06-27 |
| 发明（设计）人： | 寇浩 | 申请（专利权）人： | 深圳市华星光电技术有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13;G01N21/956 |
| 代理公司： | 深圳市百瑞专利商标事务所(普通合伙) 44240 | 代理人： | 邢涛;田夏 |
| 地址： | 518000 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 自动 光学 检测 方法 自动检测 设备 | ||
1.一种自动光学检测方法，其特征在于：该自动光学检测方法包括以下步骤：
A：色光投射步骤，采用具有三原色光的灯光投射在待检的物件上，光线经过空间叠加形成具有不同色彩的图像；获取所述图像的不同区域所对应的灰阶信息，根据灰阶信息生成所述物件的自动光学检查标准图像；
B：将所述自动光学检查标准图像跟预存的基准图像进行对比检测。
2.如权利要求1所述的自动光学检测方法，其特征在于：所述每一种色光均具有256个灰阶等级。
3.如权利要求1所述的自动光学检测方法，其特征在于：所述步骤A中，采用反射光法获取所述图像不同区域所对应的灰阶信息。
4.如权利要求1所述的自动光学检测方法，其特征在于：所述步骤A中，采用透射光法获取所述图像不同区域所对应的灰阶信息。
5.一种液晶基板的自动光学检测方法，其特征在于：该自动光学检测方法包括以下步骤：
A：色光投射步骤，采用具有三原色光的灯光投射在待检的液晶基板上，光线经过空间叠加形成具有不同色彩的图像；获取所述图像的不同区域所对应的灰阶信息，根据灰阶信息生成所述液晶基板的自动光学检查标准图像；
B：将所述自动光学检查标准图像跟预存的基准图像进行对比检测。
6.如权利要求5所述的液晶基板的自动光学检测方法，其特征在于：所述每一种色光均具有256个灰阶等级。
7.如权利要求5所述的液晶基板的自动光学检测方法，其特征在于：所述步骤A中，采用反射光法获取所述图像不同区域所对应的灰阶信息。
8.如权利要求5所述的液晶基板的自动光学检测方法，其特征在于：所述步骤A中，采用透射光法获取所述图像不同区域所对应的灰阶信息。
9.如权利要求5所述的一种液晶基板的自动光学检测方法，其特征在于：所述液晶基板包括阵列基板和彩色滤光板。
10.如权利要求9所述的一种液晶基板的自动光学检测方法，其特征在于：所述彩色滤光板侧的不同区域包括黑色矩阵、间隙粒子和平坦层对应的区域。
11.一种光学自动检测设备，其特征在于，所述光学自动检测设备包括获取待检对象图像的灰阶信息的摄影装置，以及与所述摄影装置信号连接，用于接收所述灰阶信息生成自动光学检测标准图像的运算模块。
12.如权利要求11所述的一种光学自动检测设备，其特征在于，所述光学自动检测设备还包括三原色投射装置。
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