[发明专利]相变材料的制备方法无效
申请号: | 201110376922.9 | 申请日: | 2011-11-23 |
公开(公告)号: | CN102386327A | 公开(公告)日: | 2012-03-21 |
发明(设计)人: | 宋志棠;夏梦姣;饶峰;刘波;封松林 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 |
主分类号: | H01L45/00 | 分类号: | H01L45/00 |
代理公司: | 上海光华专利事务所 31219 | 代理人: | 李仪萍 |
地址: | 200050 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 相变 材料 制备 方法 | ||
1.一种相变材料的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:
提供半导体衬底,在所述半导体衬底上形成非晶Si-SbxTe1-x材料层,其中0.1≤x≤0.9;
在所述非晶Si-SbxTe1-x复合材料的结晶温度之上,对所述Si-SbxTe1-x层执行第一次退火工艺,使得其中的非晶Si和SbxTe1-x晶体形成分相;
将退火后分相的非晶Si与SbxTe1-x晶体的复合材料置于氢气氛中执行第二次退火工艺,使其中的非晶Si转变为微晶Si以形成微晶Si-SbxTe1-x复合相变材料;
对所述微晶Si-SbxTe1-x复合相变材料执行加热退火脱氢工艺。
2.根据权利要求1所述的相变材料的制备方法,其特征在于,形成所述非晶Si-SbxTe1-x材料层的方法为物理气相沉积PVD工艺。
3.根据权利要求1所述的相变材料的制备方法,其特征在于,对所述Si-SbxTe1-x层执行第一次退火工艺包括:将所述Si-SbxTe1-x层置于氮气氛中,退火温度为250摄氏度至450摄氏度,退火时间为3分钟至5分钟。
4.根据权利要求1或3所述的相变材料的制备方法,其特征在于,将退火后分相的所述Si-SbxTe1-x材料至于氢气氛中执行第二次退火工艺包括:退火温度为200摄氏度至500摄氏度,退火时间为10分钟至30分钟。
5.根据权利要求1所述的相变材料的制备方法,其特征在于,所述加热退火脱氢工艺包括:将所述微晶Si-SbxTe1-x复合相变材料在300摄氏度至600摄氏度的退火温度下保温10分钟至30分钟脱氢。
6.根据权利要求1所述的相变材料的制备方法,其特征在于,所述微晶Si的晶粒尺寸为3纳米至20纳米。
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