[发明专利]一种存储器老化测试装置

权利要求书

1.一种存储器老化测试装置，其特征在于包括内部解码器(1)，组成内部解码器(1)的串联计数器(2-1)，计数器(2-2)，计数器(2-3)，用来解码输出自计数器(2-1)，计数器(2-2)和计数器(2-3)内部测试信号IT3的解码器(3)，以及用来从一测试时钟信号CS和一测试信号TS产生上数信号CUP的电路(4)，计数器(2-1)，计数器(2-2)和计数器(2-3)接收测试信号TO的逻辑值，同步与上数信号CUP的升起缘，并同步与上数信号CUP的下降缘地输出所接收的逻辑值作为内部测试信号IT2，解码器(3)解码计数器(2-1)，计数器(2-2)和计数器(2-3)保存在内部测试信号IT1，并依据解码结果输出一写入信号WS，图样选择信号DSS及一测试控制信号TCS。