[发明专利]用在测试存储器模块的装置

说明书

技术领域

本发明有关存储器模块的测试领域，特别是一种用在测试存储器模块的装置或MUT(module-under-test)单元。

背景技术

存储器模块测试系统或存储器测试机台常被用来测试与侦测存储器模块上的组装错误。一般来说，存储器模块测试机台会含有测试臂，可将存储器模块自动插入测试装置上的插槽中。受测的存储器模块在测试后会依据通过或未通过测试而被分类(bin)。在高产能环境中，自动化的存储器模块测试臂可帮助业主降低劳工成本并使整个制作流程更有效率。

但是，上述公知技术的存储器模块测试机台仍然有一些缺陷。图1是公知技术中的测试装置10的截面示意图。测试装置10可包括两个朝向彼此垂直方位的印刷电路板20a与20b，以及多个用来电性连接两印刷电路板20a与20b的L形针脚12。一机械臂(图没有画出)会将存储器模块40插入设置在印刷电路板20a顶面上的插槽30中。本案发明人发现L形的针脚12在使用一段时间后容易与印刷电路板20a/20b上的焊点脱附，造成接触不良并使得测试的良率下降。

发明内容

此发明的目的在于提供一种用于测试存储器模块的改进式测试装置，解决上述公知技术中存在的问题与缺陷。

根据本发明优选实施例，提供了一种用于测试存储器模块的测试装置。测试装置包括有第一电路板、一个具有垂直方位且和第一电路板耦接的第二电路板、一个设置于第一电路板上表面的插槽、以及一于第一电路板及第二电路板间的接点处电性连结第一电路板及第二电路板的弹性件，其中弹性件包括有一焊接第一电路板底面的水平段、一焊接第二电路板其中一表面的垂直段、以及一连接水平段和垂直段的弧形缓冲段。

附图说明

本说明书含有附图，用于使阅读的人对本发明优选实施例有进一步的了解。所述的这些附图描绘了本发明一些优选实施例並和本文一起描述说明了其原理。在这些附图中：

图1是公知技术的测试装置(MUT)的截面示意图；

图2是用来测试存储器模块的改进式测试装置的截面示意图；

图3是用来测试存储器模块的改进式测试装置的截面示意图；

图4是用来测试存储器模块的改进式测试装置截面示意图；以及

图5是用来测试存储器模块的改进式测试装置截面示意图。

本说明书中的所有附图都是图例性质。为了清楚与方便附图说明的缘故，附图中的各部件在尺寸与比例上可能会被夸大或缩小地表示。附图中相同的标记会用来标示修改后或不同的优选实施例中对应或类似的特征。

其中，附图标记说明如下：

10       测试装置          12         针脚

20a/20b  印刷电路板        30         插槽

40       存储器模块        100a/100b  测试装置

                           100c/100d

210      (第一)电路板      210a    顶面

210b     底面              220     (第二)电路板

300      插槽              410     弹性件

410a     水平段            410b    垂直段

410c     弧形缓冲段        411     外表面

420      弹性件            420a    水平段

420b     垂直段            420c    弧形缓冲段

421      外表面            430     弹性件

430a     水平段            430b    垂直段

430c     弧形缓冲段        431a    外表面

431b     外表面            440     弹性件

440a     水平段            440b    垂直段

440c     弧形缓冲段        441     外表面

510/520  间隙

530/540

具体实施方式