[发明专利]用在测试存储器模块的装置有效
申请号: | 201110325951.2 | 申请日: | 2011-10-21 |
公开(公告)号: | CN102881336A | 公开(公告)日: | 2013-01-16 |
发明(设计)人: | 杨永庆 | 申请(专利权)人: | 南亚科技股份有限公司 |
主分类号: | G11C29/56 | 分类号: | G11C29/56 |
代理公司: | 深圳新创友知识产权代理有限公司 44223 | 代理人: | 江耀纯 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 测试 存储器 模块 装置 | ||
1.一种用在测试存储器模块的装置,其特征在于包括:
第一电路板;
第二电路板,具有一垂直方位且和所述第一电路板耦接;
插槽,设置在所述第一电路板的上表面;及
弹性件,设置在所述第一电路板和所述第二电路板间的接点处,并且电性连结所述第一电路板和所述第二电路板,其中所述弹性件包括有水平段,焊接在所述第一电路板的底面、垂直段,焊接在所述第二电路板的表面、和弧形缓冲段,连接所述水平段和所述垂直段。
2.根据权利要求1所述的用在测试存储器模块的装置,其特征在于所述弧形缓冲段具有内凹的外表面。
3.根据权利要求1所述的用在测试存储器模块的装置,其特征在于所述弧形缓冲段具有外凸的外表面。
4.根据权利要求1所述的用在测试存储器模块的装置,其特征在于所述弹性件、所述第一电路板和所述第二电路板间具有间隙。
5.根据权利要求1所述的用在测试存储器模块的装置,其特征在于所述弹性件是由导电性的非锻接材料构成。
6.根据权利要求5所述的用在测试存储器模块的装置,其特征在于所述弹性件包括有铜或铜合金。
7.根据权利要求5所述的用在测试存储器模块的装置,其特征在于所述弹性件是一体成型的结构。
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