[发明专利]一种抗外界脉冲干扰的阵列校准预处理方法有效

专利信息
申请号: 201110320900.0 申请日: 2011-10-20
公开(公告)号: CN102508060A 公开(公告)日: 2012-06-20
发明(设计)人: 马洪;谭萍;罗冶;姚镇 申请(专利权)人: 华中科技大学
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 华中科技大学专利中心 42201 代理人: 曹葆青
地址: 430074 湖北*** 国省代码: 湖北;42
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 外界 脉冲 干扰 阵列 校准 预处理 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及阵列校准及阵列信号处理技术,具体涉及该类技术中的抗外界脉冲干扰的阵列校准预处理技术,具体为一种抗外界脉冲干扰阵列校准预处理方法。

背景技术

目前阵列天线及阵列接收机已经广泛应用于移动通信、广播电视、雷达系统和导航等无线电系统中。一般情况下,在进行阵列信号处理时,通常假设天线阵列的阵列流型是精确已知的,并且天线阵列及后续的阵列接收通道之间是没有幅度及相位偏差的,从而获得优良的阵列信号处理性能。然而,在实际系统中,天线阵列的阵列流型及阵列接收通道因设备本身的不一致性以及外部环境的影响,会与上述理想情况有较大偏差。因此,实际应用的阵列接收系统(包括天线阵列和阵列接收通道)的整体性能会出现严重恶化。所以,在实际应用中必须对天线阵列及阵列接收通道进行幅度/相位一致性校准。

为了解决天线阵列及阵列接收机存在的幅/相不一致性偏差,人们一直在研究阵列误差校准算法。文献“Multilinear Array Manifold Interpolation”(Schmidt R O.,IEEE Trans.On Signal Processing,1992,40(4):857-866)提出通过直接对阵列流型进行离散测量、内插、存储来实现阵列误差校准。这种方法的实现代价高且效果不佳。文献“DOA estimation with sensor gain,phase and position perturbations”(Zhang M,Zhu Z D.,Proceedings of the IEEENational Aerospace and Electronics Conference,1993:67-69)提出将阵列误差校准问题转化为一个对阵列扰动进行建模的参数估计问题,从而实现阵列校准。

但是,现有的各种基于发射辅助信号实现阵列校准的算法,都是以阵列校准过程为理想过程,即认为阵列校准过程不会受到外部脉冲的干扰为前提的。一般情况下,发射的辅助信号都选择容易产生和识别的频率固定的单频信号。但也正是这个原因,当出现外界干扰脉冲时,其会极大地影响甚至破坏单频信号固有的属性,这时若仍按照无干扰脉冲情况而设计的阵列校准算法计算阵列通道幅/相校准系数,其结果不能反映阵列通道的真实幅/相不一致性偏差。其原因是:阵列天线中的各个天线单元接收到的干扰脉冲的相位是不相同的,这会被带入到阵列校准算法中,从而影响阵列通道幅/相校准系数的可信度和准确度。

发明内容

本发明的目的在于提供一种抗外界脉冲干扰的阵列校准预处理方法,该方法具有实时、准确判断当前阵列校准过程中是否受到外界脉冲干扰、并依据此判断结果引导后续阵列校准过程的特点。

本发明提供的一种抗外界脉冲干扰的阵列校准预处理方法,其特征在于,该方法包括下述步骤:

(A1)阵列天线和阵列接收机接收来自阵列校准信号源发射的单频信号,接收机的任意一路接收通道在某一采样时刻的输出信号记为si(n),i为通道的序号,1≤i≤M,M为阵列接收机的接收通道数,n为采样时刻的序号;

(A2)同步数字下变频对阵列接收机各个通道输出的叠加了噪声的单频信号si(n)进行数字下变频,得到第n个采样时刻的由同相分量I(n)和正交分量Q(n)组成的带通复信号X(n);

(A3)根据量化后得到的Ii(n)、Qi(n)信号分量计算阵列接收机的第i个接收通道当前输出信号的包络波Ei(n)及脉冲干扰度因子ci

(A4)计算M个通道输出信号的脉冲干扰度因子的平均值C,并判断其是否小于预设设定的阈值ε,ε为一个小于1的正数。如果是,则判定当前阵列校准过程未受到外界脉冲干扰,阵列校准预处理过程结束;否则,则判定当前阵列校准过程受到外界脉冲干扰,重新进入阵列校准过程。

本发明提供的另一种抗外界脉冲干扰的阵列校准预处理方法,其特征在于,该方法包括下述步骤:

(B1)M通道的阵列天线和阵列接收机接收来自阵列校准信号源发射的单频信号;

(B2)由同步DDC进行正交数字下变频得到由同相分量I(n)和正交分量Q(n)组成的带通复信号X(n),取其同相分量I(n)或正交分量Q(n)作为对应的带通实信号x(n);

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华中科技大学,未经华中科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201110320900.0/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top