[发明专利]电子束显示器

说明书

技术领域

本发明涉及电子束显示器，并且特别地涉及具有发光部分的前板(face plate)的配置。

背景技术

在现有技术中，日本专利申请公开No.H05-188214公开了一种具有滤色器的用于打印的方法，在该方法中，通过控制打印板中的开口的尺寸和打印操作的次数来控制全部分布在像素上的滤色器的厚度的分布。

此外，日本专利申请公开No.2009-252440公开了基于源自设置在各像素内的遮蔽区域的黑底(black matrix)的占有率的增加的对比度的提高。

电子束显示器具有以下问题。发射到像素的电子束一般具有不均匀的电流密度。此外，亮度不均匀可能源自电子束的照射位置的偏离的可能性。

在日本专利申请公开No.H05-188214中公开的用于彩色显示器的分布控制对于例如在液晶显示器中使各像素内的亮度均匀是有效的，其中在所述液晶显示器中，发光在像素内是均匀的。

但是，在电子束显示器中，发射到像素的电子束一般具有不均匀的电流密度，并且，电子束的照射位置的偏离可能导致亮度不均匀。因此，即使应用在日本专利申请公开No.H05-188214中公开的技术来控制全部分布在像素上的荧光体的厚度的分布，电子束显示器的亮度不均匀性也没有被充分地被校正。

根据日本专利申请公开No.2009-252440，设置在尺寸方面为引出源自荧光体的发光的光的开口的至少30％的遮蔽区域。这会不利地降低画面的亮度。

鉴于上述的现有技术的问题，作出本发明。本发明的一个目的是，在保持画面的明亮度的同时校正电子束显示器的亮度不均匀。

发明内容

为了实现该目的，本发明提供一种电子束显示器，该电子束显示器包括：前板，包含具有响应于电子的照射而发射光的荧光体的多个像素和用于提取从荧光体发射的光的光透射开口，所述光透射开口与像素中的每一个对应地被布置；和后板，包含多个电子发射器件，所述多个电子发射器件中的每一个与所述多个像素中的每一个对应地被布置，以向对应的像素照射电子，并且使得电子束照射表面上的照射电流密度在对应的像素内具有强度分布，其中，光透射抑制部分覆盖与电子束的照射电流密度最大的位置对应的开口的位置，并且光透射抑制部分的面积为电子束照射表面上的开口的面积的10～28％。

根据本发明，光透射抑制部分被设置在以这样的位置为中心的区域中：在该位置中，电子束表现出最高的电流密度，并且当电子束照射位置偏移时，该位置最显著地影响亮度的变化。这样，即使具有分布的电流密度的电子束的照射位置或多或少地发生偏移，也能够防止可能的显著的亮度不均匀。此外，根据本发明的光透射抑制部分的面积是开口的面积的10％～28％。这防止各像素的亮度大大地降低，从而允许维持明亮的画面。

参照附图阅读示例性实施例的以下的描述，本发明的其它特征将变得清晰。

附图说明

图1A和图1B是根据本发明的电子束显示器的部分示意图。

图2A和图2B是示出发光的典型分布的示图。

图3A、图3B、图3C和图3D是示出发光位置的变化的示图。

图4是示出发光的分布的示图。

图5A和图5B是示出基于Y方向上的积分的发光轮廓(profile)的示图。

图6是沿X方向和Y方向均具有一定的宽度的光透射抑制部分的示意图。

图7A和图7B是具有光透射率的光透射抑制部分的示意图。

图8是当光透射抑制部分具有光透射率时所观察的光透射抑制部分的尺寸的容限的扩大的变化的例子的示图。

图9是示出根据第三示例性实施例的希望的范围的曲线图。

图10是示出根据例子6的光透射率的示图。

图11A和图11B是示出例子6的示图。

图12A和图12B是示出具有光透射率分布的光透射抑制部分的示图。

图13A、图13B和图13C是示出光透射抑制部分的最佳形式的示图。

图14A和图14B是示出发光峰值和光透射抑制部分的位置之间的关系以及所述位置的变化的示图。

图15A、图15B和图15C是示出光透射抑制部分的第二示例性实施例的示图。

图16A、图16B和图16C是示出光透射抑制部分的第三示例性实施例的示图。

图17A和图17B是示出光透射抑制部分的第四示例性实施例的示图。

具体实施方式

现在将根据附图详细描述本发明的优选实施例。